[发明专利]一种毫米波天线阵列的校准方法有效
| 申请号： | 201310716741.5 | 申请日： | 2013-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN103630884A | 公开（公告）日： | 2014-03-12 |
| 发明（设计）人： | 温鑫;方维海;费鹏;年丰 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 张文祎 |
| 地址： | 100854 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 毫米波 天线 阵列 校准 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种毫米波天线阵列的校准方法，其特征在于，该校准方法包括如下步骤：
S1利用校准金属板对毫米波天线阵列粗校准；
S2对毫米波天线阵列进行三维重构，得到校准金属板的三维空间散射强度分布；
S3利用校准金属板的三维空间散射强度分布σ(x,y,z)的切面图，实现毫米波天线阵列各个收发通道的相位精校准。
2.根据权利要求1所述的一种毫米波天线阵列的校准方法，其特征在于，所述S1对毫米波天线阵列粗校准包括：
S101.校准金属板放到成像区域的中间，毫米波信号通过天线阵列的各个通道自上而下对校准金属板扫描得到采样数据SCal(θ0,ω,z)；
S102.确定校准金属板的理论参考回波信号并得到毫米波天线阵列的粗校准因子
S103.粗校准因子SCalfactor乘以成像系统工作时的每一列采样数据得到毫米波天线阵列不同收发通道采样数据的幅度校准和相位的粗校准。
3.根据权利要求1所述的一种毫米波天线阵列的校准方法，其特征在于，所述校准金属板的三维空间散射强度分布为
其中，S(ω,ξ,kz)是对S(ω,θ,z)沿着θ和z方向的二维傅立叶变换，R为成像系统的扫描半径，
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