[发明专利]双路干涉信号正交标准化方法及装置有效

专利信息
申请号: 201310717911.1 申请日: 2013-12-23
公开(公告)号: CN103630164B 公开(公告)日: 2016-11-16
发明(设计)人: 高宏堂;叶孝佑 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01D21/00 分类号: G01D21/00
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 逯长明;陈蕾
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 干涉 信号 正交 标准化 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种双路干涉信号正交标准化方法,其特征在于,所述方法包括:

根据第一干涉信号及第二干涉信号确定第一待处理信号及第二待处理信号;

对所述第一待处理信号及所述第二待处理信号分别进行去直流处理,生成第一去直流信号及第二去直流信号;

对所述第一去直流信号及所述第二去直流信号分别进行幅度单位化,生成第一单位化信号及第二单位化信号;

对所述第一单位化信号与所述第二单位化信号进行正交化处理,得到第一正交化信号与第二正交化信号;

对所述第一正交化信号及所述第二正交化信号分别进行幅度单位化处理,实现双路干涉信号正交标准化。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据第一干涉信号及第二干涉信号确定第一待处理信号及第二待处理信号包括:

对所述第一干涉信号与所述第二干涉信号进行初步调理,生成所述第一待处理信号及所述第二待处理信号。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述第一干涉信号与所述第二干涉信号进行初步调理,生成所述第一待处理信号及所述第二待处理信号包括:

对所述第一干涉信号的幅度与直流分量进行初步调整,生成第一初调信号;

对所述第二干涉信号的幅度与直流分量进行初步调整,生成第二初调信号;

对所述第一初调信号与所述第二初调信号之间的相位进行初步调整,生成所述第一待处理信号及所述第二待处理信号。

4.如权利要求1至3任意一项权利要求所述的方法,其特征在于,所述对所述第一待处理信号及所述第二待处理信号分别进行去直流处理,生成第一去直流信号及第二去直流信号包括:

生成与所述第一待处理信号相位差为180°的第一相位超前信号;

根据所述第一待处理信号与所述第一相位超前信号生成第一直流分量;

根据所述第一直流分量对所述第一待处理信号进行去直流处理,生成第一去直流信号;

生成与所述第二待处理信号相位差为180°的第二相位超前信号;

根据所述第二待处理信号与所述第二相位超前信号生成第二直流分量;

根据所述第二直流分量对所述第二待处理信号进行去直流处理,生成第二去直流信号。

5.如权利要求1至4任意一项权利要求所述的方法,其特征在于,所述对所述第一单位化信号与所述第二单位化信号进行正交化处理,得到第一正交化信号与第二正交化信号包括:

生成第一正交化信号,所述第一正交化信号为所述第一单位化信号与所述第二单位化信号的加信号;

生成第二正交化信号,所述第二正交化信号为所述第一单位化信号与所述第二单位化信号的减信号。

6.一种双路干涉信号正交标准化装置,其特征在于,所述装置包括:

输入单元,用于根据第一干涉信号及第二干涉信号确定第一待处理信号及第二待处理信号;

去直流单元,用于对所述输入单元生成的所述第一待处理信号及所述第二待处理信号分别进行去直流处理,生成第一去直流信号及第二去直流信号;

第一单位化单元,用于对所述去直流单元生成的所述第一去直流信号及所述第二去直流信号分别进行幅度单位化,生成第一单位化信号及第二单位化信号;

正交化单元,用于对所述第一单位化单元生成的所述第一单位化信号与所述第二单位化信号进行正交化处理,得到第一正交化信号与第二正交化信号;

第二单位化单元,用于对所述正交化单元生成的所述第一正交化信号及所述第二正交化信号分别进行幅度单位化处理,实现双路干涉信号正交标准化。

7.如权利要求6所述的装置,其特征在于,

所述输入单元,用于对所述第一干涉信号与所述第二干涉信号进行初步调理,生成所述第一待处理信号及所述第二待处理信号。

8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述输入单元包括:

第一初调子单元,用于对所述第一干涉信号的幅度与直流分量进行初步调整,生成第一初调信号;

第二初调子单元,用于对所述第二干涉信号的幅度与直流分量进行初步调整,生成第二初调信号;

相位初调子单元,用于对所述第一初调子单元生成的所述第一初调信号与所述第二初调子单元生成的所述第二初调信号之间的相位进行初步调整,生成所述第一待处理信号及所述第二待处理信号。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310717911.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top