[发明专利]制造和使用质量流量设备的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201310717913.0 申请日: 2002-10-11
公开(公告)号: CN103838261B 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: W.W.惠特;W.H.惠特;D.T.穆德;C.B.达维斯;B.冯泰恩 申请(专利权)人: 霍里巴斯特克公司
主分类号: G05D7/06 分类号: G05D7/06;G01F1/88
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 叶晓勇,汤春龙
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 制造 使用 质量 流量 设备 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种构造与至少一种流体一起使用的质量流量设备的方法,所述方法包括:

获得所述至少一种流体的流体特性数据;

获得限流器参数;

选择与所获限流器参数对应的限流器;

通过用所述流体特性数据处理所述限流器参数来生成设备参数,所述设备参数定义所述质量流量设备关于所述至少一种流体的特性;和

将所述设备参数下载到所述质量流量设备中,其中所述设备参数使所述质量流量设备能够在环境条件范围内监控所述至少一种流体的流量,

其中所述方法进一步包括:通过根据实验确定在多个绝对下游压力、压差和温度下的流体特性来获取所述流体特性数据,以及执行限流器测试以确定所选限流器的限流器特性,并且

其中从多个限流器中依照尺寸选择所述限流器。

2.如权利要求1所述的方法,其中执行限流器测试包括:

通过在额定流量下测试限流器获得第一值;以及

通过在部分额定流量下测试限流器获得第二值,

其中该第一值和第二值能够表征限流器特性。

3.如权利要求1所述的方法,其中进行流体特性数据的最佳拟合以产生插值方程的多项式系数。

4.如权利要求1所述的方法,其中环境条件范围包括多个绝对下游压力、多个压差和多个温度。

5.一种把用于控制流体的信息提供给质量流量设备的方法,所述方法包括:

获得限流器参数;

选择与所获限流器参数对应的限流器;

识别与至少一个传感器相关联的传感器参数,其中所述限流器参数和传感器参数分别定义限流器特性和传感器特性;

识别与所述流体相关联的特性信息;

用所述特性信息处理所述限流器参数和所述传感器参数,以产生所述质量流量设备的设备参数,其中所述设备参数与所述流体和待测试的限流器关联并且使所述质量流量设备能够控制所述流体;并且

将所述设备参数保存到所述质量流量设备可访问的存储器中。

6.如权利要求5所述的方法,进一步包括:从至少一个数据库中检索所述限流器、传感器和特性信息。

7.如权利要求5所述的方法,其中所述特性信息包括在绝对下游压力、压差和温度范围内表示流体特性的数据。

8.如权利要求7所述的方法,其中所述流体的质量流速和所述质量流量设备的压差之间的关系是非线性的。

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