[发明专利]适用于汽车电子元件老化温度和时间的优化方法

权利要求书

1.一种适用于汽车电子元件老化温度和时间的优化方法，其特征在于本方法包括如下步骤：

步骤一、设定电子元件的老化温度分别为45℃、55℃、65℃，老化时间分别为4小时、8小时、12小时、24小时、36小时、48小时、72小时；

步骤二、设置电子元件老化时代表性关键参数的监控点，分别在每个老化温度下的各老化时间后测量记录电子元件的代表性关键参数；

步骤三、利用PPK长期工序能力指数进行分析判断，根据PPK长期工序能力指数计算公式：

（AVE（M）-LSL（下公差））/3*标准差 （1）

（USL（上公差）- AVE（M））/3*标准差 （2）

式（1）和式（2）中：AVE（M）为每一温度下对应电子元件测量参数所有样本数据的平均值，USL（上公差）为电子元件设计关键参数的最大值，LSL（下公差）为电子元件设计关键参数的最小值，标准差为首先将每一个记录数据减去平均值得到差值的绝对值相加，然后再除以记录的样本数，

利用式（1）和式（2）分别计算电子元件在各温度下的PPK值，并选择两个计算公式所得到结果中较小的一个值作为PPK值a；

步骤四、依据下表的PPK等级表，以不低于等级A确定优化后的温度点，

PPK等级	PPK值a
D	a＜0.67
C	1＞a≥0.67
B	1.33＞a≥1
A	1.67＞a≥1.33
A+	a≥1.67

当有两个或两个以上的温度点的PPK值都对应等级A，则选择PPK值更大的温度点作为优化的老化温度点，如果各温度点的PPK值相同，则以最低的温度点作为确定的老化温度点，如果各温度点的PPK值都低于等级A，表明电子元件还不适合进行批量生产；

步骤五、优化老化时间以各老化温度下电子元件关键参数监控点的测量数据进入稳定状态后的相邻时间点稳定状态变差最小的两点中选取较大的时间点进行判定；

其中：稳定状态为每个时间节点测量得到的关键参数值与老化72小时后的关键参数值偏差小于参考关键参数公差*20%，参考关键参数公差为代表性关键参数的上公差与下公差之差中的设计公差最小值；相邻时间点稳定状态变差最小的两点中较大的时间点为相邻时间点的关键参数值相减，所得数值最小的相邻时间点中选取较大的时间点；

最后从各监控点的优化老化时间中选择其中最大的时间点为最终的优化老化时间。

2.根据权利要求1所述的适用于汽车电子元件老化温度和时间的优化方法，其特征在于：所述电子元件的代表性关键参数为输出电压或输出电流。