[发明专利]一种磁场测量分析系统有效
申请号: | 201310720934.8 | 申请日: | 2013-12-24 |
公开(公告)号: | CN103675723B | 公开(公告)日: | 2017-11-21 |
发明(设计)人: | 魏庆瑄;张俊峰;李桂良 | 申请(专利权)人: | 上海子创镀膜技术有限公司 |
主分类号: | G01R33/07 | 分类号: | G01R33/07 |
代理公司: | 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙)31243 | 代理人: | 陈贞健 |
地址: | 201506 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磁场 测量 分析 系统 | ||
1.一种磁场测量分析系统,其特征在于,包括机架装置(1)、安装在机架装置(1)顶端的横向移动装置(2),安装在机架装置(1)上端且与横向移动装置(2)成“十”字交叉联接的纵向移动装置(3),随横向移动装置(2)左右移动且随纵向移动装置(3)上下移动的霍尔探针(13),在所述横向移动装置(2)上设有横向刻度尺(4),在所述纵向移动装置(3)上设有纵向刻度尺(5),在所述机架装置(1)的上端、霍尔探针(13)下方位设有被测部件(10),所述被测部件(10)通过定位装置(6)固定,所述横向移动装置(2)包括第一手轮(12)、第一齿轮齿条(15),横向直线导轨(19),所述霍尔探针(13)可通过所述横向直线导轨(19)内的导轨进行左、右移动,当所述第一手轮(12)转动时,带动所述第一齿轮齿条(15)转动,进一步带动所述霍尔探针(13)在横向直线导轨内(19)左、右移动,所述第一手轮(12)、第一齿轮齿条(15)、横向直线导轨(19)、霍尔探针(13)、横向刻度尺(4)结合组成霍尔探针测量机构(14),在机架装置(1)的顶端安装有一个高斯仪(17),所述高斯仪(17)与霍尔探针测量机构(14)相连,通过高斯仪(17)的数字显示屏,显示采集各点的磁场强度,所述横向刻度尺(4)安装在所述横向直线导轨(19)上,通过所述横向刻度尺(4)可观测到霍尔探针(13)在所述横向直线导轨(19)上的移动距离,所述纵向移动装置(3)包括第二手轮(11)、第二齿轮齿条(16),纵向直线导轨(20),所述霍尔探针测量机构(14)通过其上的滑块安装在纵向直线导轨(20)内,所述第二手轮转动(11),带动第二齿轮齿条运动(16),进一步带动霍尔探针测量机构(14)在纵向直线导轨(20)内做上、下移动,所述机架装置(1)的底端设有移动脚轮(7),所述移动脚轮(7)的下端还设有支撑板(8),在所述霍尔探针(13)的上端设有上下移动装置(9),通过所述上下移动装置(9)可微调霍尔探针(13)与被测部件(10)上下之间的距离。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海子创镀膜技术有限公司,未经上海子创镀膜技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310720934.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。