[发明专利]NAND FLASH管理软件的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及测试方法，特别涉及一种NAND FLASH管理软件的测试方法。

背景技术

NAND FLASH内存是flash内存中的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案。NAND-FLASH存储器具有容量较大，改写速度快等优点，适用于大量数据的存储，因而在业界得到了越来越广泛的应用，如嵌入式产品中包括数码相机、MP3随身听记忆卡、体积小巧的U盘等。然而，NAND FLASH内存容易出现位反转的情况，必须配备可靠的NAND FLASH管理软件才可以保证NAND FLASH内存的可靠性。

现有NAND FLASH管理软件的原理是在NAND FLASH翻转位达到设计的临界值时触发数据搬移机制，将经过纠错的数据搬移到另一地址，并将NAND FLASH的物理地址映射到操作系统所使用的逻辑地址。依靠这套管理软件NAND FLASH内存才可以在一些对安全要求比较高的场合使用，比如工业机器，汽车等。因此，产品所使用的NAND FLASH管理软件的可靠性与覆盖范围便成为事关产品寿命与可靠性的重要因素。

为了测试NAND FLASH管理软件的可靠性，一般是在管理软件提供的读写接口之上编写测试程序，测试程序对NAND FLASH内存做多次读写操作，再配合电压波动测试，以使NAND FLASH 尽早达到位翻转或损坏的情况，以触发数据搬移机制，验证NAND FLASH管理软件的作用。然而，通过掉电测试往往需要几万次以上才能触发数据搬移机制，需要耗时几天到几个星期的时间，效率低，很大程度上影响了产品推出的时间。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可在短时间内完成NAND FLASH管理软件的测试过程的NAND FLASH管理软件的测试方法。

一种NAND FLASH管理软件的测试方法，其用于对运行在处理器上的NAND FLASH管理软件进行测试。NAND FLASH内存通过一NAND FLASH控制器连接在所述处理器上。所述测试方法包括四个步骤。其中步骤一，通过所述NAND FLASH管理软件从所述NAND FLASH内存上读取指定逻辑地址的块的数据区和备份区数据作为第一数据和第二数据，并同时获取第一数据的物理地址。步骤二，关闭所述NAND FLASH控制器的ECC校验功能，绕过所述NAND FLASH管理软件，根据所述物理地址直接物理擦除所述NAND FLASH内存块上的数据。步骤三，绕过所述NAND FLASH管理软件，直接在所述物理地址的数据区写入第三数据，在备份区写入所述第二数据，其中第三数据与第一数据相比所不同的数据位的数量大于所述NAND FLASH管理软件的ECC临界值并小于ECC的最大纠错位数。步骤四，打开所述NAND FLASH控制器的ECC校验功能，连续两次通过所述NAND FLASH管理软件读取NAND FLASH内存的所述指定逻辑地址的数据，在第二次读取时获取此时所述指定逻辑地址对应的物理地址，并根读取的结果输出验证结果。

优选的，所述处理器还通过串口与一外接计算机设备相连，所述步骤一中读取第一和第二数据的动作是所述处理器在接收到所述外接计算机设备发送过来的读取所述NAND FLASH内存的指定逻辑地址的数据的请求时执行的，所述处理器读取到所述第一和第二数据后发送给所述外接计算机设备保存，同时获取第一数据的物理地址并发送给所述外接计算机设备。

优选的，所述外接计算机设备接收到所述第一和第二数据后，根据所述第一数据生成第三数据，然后控制所述处理器执行所述步骤二至步骤四。 

优选的，步骤四中，如果两次读取中的第一次读取的数据为所述第三和第二数据，第二次读取的数据是第一和第二数据，且第二次获取的物理地址与与步骤一获得的物理地址不同，则判断所述NAND FLASH管理软件正确，所述外接计算机设备通过显示设备输出验证通过的信息；如果第二次读取的数据仍然为所述第三和第二数据，则判断所述NAND FLASH管理软件出错，所述外接计算机设备通过显示设备输出验证失败的信息。

本发明的NAND FLASH管理软件的测试方法通过采用读取NAND FLASH内存的数据时采用逻辑读取，在NAND FLASH内存写入数据时采用物理直接写入的方式快速触发NAND FLASH管理软件的数据搬移机制，可以减少产品的测试时间，节约测试经费。该测试方法可应用于不同操作系统的不同的NAND FLASH管理软件。

附图说明

图1为一实施例的NAND FLASH管理软件的测试方法应用的系统架构图。