[发明专利]双电控扫描激光相控阵雷达有效

专利信息
申请号: 201310721989.0 申请日: 2013-12-24
公开(公告)号: CN103645470A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: 靳辰飞;张思琦;赵远;乔天元;宋子童;翟建华 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481;G01S7/495
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 岳泉清
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 双电控 扫描 激光 相控阵 雷达
【权利要求书】:

1.双电控扫描激光相控阵雷达,其特征在于,它包括脉冲激光器(1)、二维液晶调相器(2)、二维微镜阵列(3)、偏振器(4)、探测器PIN(5)、探测器APD(6)、分光器(7)、两个反射镜(8)、望远镜(9)、信号处理电路(10)、控制器(11)、发射接收光学元件(12)和分光镜(13),

脉冲激光器(1)出射的脉冲激光入射至第一个反射镜(8),经第一个反射镜(8)反射后入射至分光器(7),经过该分光器(7)反射的反射光入射至探测器PIN(5),经过分光器(7)的透射光入射至偏振器(4),经过该偏振器(4)透射的光入射至二维液晶调相器(2),经过该二维液晶调相器(2)反射的光入射至第二个反射镜(8),经过该第二个反射镜(8)反射的光入射至分光镜(13),经过该分光镜(13)透射的光入射至发射接收光学元件(12),经过该发射接收光学元件(12)透射的光作为双电控扫描激光相控阵雷达的发射光束发射出去,经过目标反射的回波信号经过发射接收光学元件(12)接收后透射给分光镜(13),经过该分光镜(13)反射的光入射至二维微镜阵列(3),经过该二维微镜阵列(3)反射的光入射至望远镜(9),经过该望远镜(9)的透射光入射至探测器APD(6),

探测器PIN(5)将接收到的光信号转化为电信号后输出给信号处理电路(10),探测器PIN(5)用于提供计时起始信号,

探测器APD(6)将接收到的光信号转化为电脉冲信号后输出给信号处理电路(10),信号处理电路(10)将接收的信号计算获得距离值,输出给控制器(11),

控制器(11)的第一控制信号通过信号处理电路(10)输出至二维液晶调相器(2),用于控制光束所在区域的相位分布,控制器(11)的第二控制信号通过信号处理电路(10)输出至二维微镜阵列(3),用于控制二维微镜阵列(3)对主光束成相区域进行选择,然后反射到望远镜(9)中,

控制器(11)的第三控制信号输出至脉冲激光器(1)。

2.根据权利要求1所述双电控扫描激光相控阵雷达,其特征在于,所述控制器(11)采用计算机实现。

3.根据权利要求1所述双电控扫描激光相控阵雷达,其特征在于,控制器(11)将控制信号输出至二维液晶调相器(2)控制光束所在区域的相位分布的过程为:利用液晶的双折射效应,控制光束经过每个相控单元后产生相位延迟,从而改变输出光束的形状及传播方向。

4.根据权利要求1所述双电控扫描激光相控阵雷达,其特征在于,控制器(11)将控制信号输出至二维微镜阵列(3)对主光束成像区域进行选择的过程为:二维微镜阵列(3)包括多个微小平面镜,控制器(11)的输出电压不同控制每个微小平面镜在空间中与基体方向的角度不同。

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