[发明专利]偏光膜检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种偏光膜检测装置，更详细地讲，本发明涉及一种能够对偏光膜的黑模式进行检测的偏光膜检测装置。

背景技术

偏光膜用于按照规定的方向使光进行偏振。偏光膜例如可以用于液晶显示装置（LCD）中，粘贴在液晶元件（liquid crystal cell）的两个表面上从而形成液晶显示面板（liquid crystal panel）。理论上，偏光膜以两片偏光膜相垂直的状态重叠配置（即，两片偏光膜重叠配置且使二者的透光轴相垂直）时，不会有光透过偏光膜。此时，由于光被遮挡因而对偏光膜进行拍摄而得到的映像是黑的，偏光膜的上述这种状态称为黑模式（Black Mode）。

一般而言，可以通过如下方式对偏光膜的黑模式进行检测，即，在以垂直的状态重叠配置的两片偏光膜的一侧设置光源，另一侧设置照相机，由设置在一侧的光源对这两片偏光膜照射出光，由设置在另一侧的照相机对偏光膜进行拍摄，从而能够进行检测。但光源所照射出的光中不仅包含可见光线，还包含红外线以及紫外线，因而产生“对偏光膜进行拍摄所得到的映像并不是黑的而是白的”这样的问题。

即，偏光膜被制造成，对一般的可见光线区域的光进行偏振。因而，在光源照射出的光包含红外线与紫外线时，即使两片偏光膜以垂直的状态重叠配置，红外线与紫外线也不会被遮挡，而能够透过偏光膜，这会使得对黑模式的偏光膜进行拍摄而得到的映像是白的。此时，就会产生“无法对偏光膜的黑模式进行检测，无法通过对偏光膜的黑模式进行检测而检测出偏光膜中存在的缺陷”这样的问题。

具体而言，即，理论上，在偏光膜处于黑模式时，光是不能通过偏光膜的，因而，对偏光膜进行拍摄而得到的映像应该是黑的，但是，如果在制造偏光膜的过程中使偏光膜产生缺陷（例如，在染色时染料不均匀、染料接触不良、表面存在刮痕、异物等）时，就不能100%地对光形成遮挡，因而，在对偏光膜进行拍摄而得到的映像上会存在亮度差。但是，如果对处于黑模式的偏光膜进行拍摄而得到的映像是白的，就不能检测出偏光膜存在的缺陷。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够对偏光膜的黑模式进行检测的偏光膜检测装置。

技术方案1：本发明一个实施方式的偏光膜检测装置具有：光源，其用于产生光；照射部，其使所述光源产生的光照射在透光轴相互交叉并垂直配置的偏光膜上；拍摄部，其从照射部的相反侧对所述偏光膜进行拍摄；光传递部件，其将所述光源产生的光传递至所述照射部；连通部，其分别连通所述光源与所述光传递部件以及所述光传递部件与所述照射部；波长成分遮挡滤波器，其设置在所述连通部上，从所述光源产生的光中遮住红外线区域与紫外线区域这二者的至少其中之一。

技术方案2：在上述技术方案1的基础上，所述光传递部件为光纤，所述连通部为光纤转接器。

技术方案3：在上述技术方案1的基础上，所述连通部具有第1连通部与第2连通部，所述第1连通部连通所述光源与所述光传递部件的一端，所述第2连通部连通所述光传递部件的另一端与所述照射部，所述波长成分遮挡滤波器具有第1波长成分遮挡滤波器与第2波长成分遮挡滤波器，所述第1波长成分遮挡滤波器设置在所述第1连通部上，从所述光源产生的光中遮住红外线区域与紫外线区域这二者中的一方，所述第2波长成分遮挡滤波器设置在所述第2连通部上，所述光源产生的光中遮去红外线区域与紫外线区域这二者中的另一方。

技术方案4：在上述技术方案1的基础上，所述拍摄部具有红外线遮挡滤波器，所述波长成分遮挡滤波器从所述光源产生的光中遮去紫外线区域。

【发明效果】

采用本发明的实施方式，能够由波长成分遮挡滤波器遮去光源所产生的光中的红外线与紫外线区域，从而使对偏光膜进行拍摄而得到的映像显示为黑色，从而能够根据该拍摄映像对黑模式下的偏光膜进行检测。此时，如果偏光膜中存在缺陷，那么，在拍摄映像中，于对应于缺陷所存在的部分处会产生亮度差，因而，能够容易地检测出偏光膜是否存在缺陷。

附图说明

图1为表示本发明一个实施方式所述的偏光膜检测装置的结构的图。

图2为使用了波长成分遮挡滤波器的本发明具体实施方式的偏光膜检测装置以及没有使用波长成分遮挡滤波器所拍摄到的拍摄映像的对比图。

【附图标记说明】