[发明专利]伽玛辐照下介质材料辐射诱导电导率测量夹具

说明书

技术领域

本发明涉及测量技术领域，特别涉及一种伽玛辐照下介质材料辐射诱导电导率测量夹具。

背景技术

介质内带电效应是引起在轨航天器异常现象的重要原因之一。航天器上越来越多地采用了高聚物介质材料，当航天器运行于严苛的空间辐照环境中时发生内带电的危险性大大增强。为了保证航天器安全可靠长寿命工作，国际上投入了大量的精力进行介质内带电机理及其效应研究，而国内在这方面的工作才刚刚起步。

内带电程度与空间环境能谱、介质介电性能/尺寸、屏蔽层介电性能/尺寸、接地方式等因素有关。介质内带电过程包括电荷沉积和电荷泄放两个过程，其中高能电子辐照引起的介质材料辐射诱导电导率(Radiation Induced Conductivity，RIC)是影响电荷泄放速率的重要因素。RIC的产生引起电荷泄漏速率的增大，解决了沉积电荷导电通道的问题，使得沉积在介质体内电荷量减小，进而使得介质内电场强度的减小以及达到稳定状态的时间同数量级的减小。介质材料的辐射诱导电导率在决定内带电程度及击穿可能性中起重要作用，是介质内带电研究的重要材料特性参数。

对于伽玛辐照下介质材料辐射诱导电导率的测量，目前尚无合适的测量夹具。

发明内容

在下文中给出关于本发明的简要概述，以便提供关于本发明的某些方面的基本理解。应当理解，这个概述并不是关于本发明的穷举性概述。它并不是意图确定本发明的关键或重要部分，也不是意图限定本发明的范围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念，以此作为稍后论述的更详细描述的前序。

本发明解决的技术问题是：提供一种伽玛辐照下介质材料辐射诱导电导率测量夹具，在伽玛射线辐射下，该夹具可以提高了测量介质材料辐射诱导电导率的准确度。。

本发明提供了一种伽玛辐照下介质材料辐射诱导电导率测量夹具，包括：上电极托架、上电极、下电极、下电极托架和底座；其中，

所述上电极和下电极位于所述上电极托架和下电极托架之间；

所述上电极托架的下方设有上电极，所述下电极托架的上方设有下电极；

所述上电极和下电极之间用于放置介质材料；

所述上电极托架和下电极托架分别与所述底座固定连接。

与现有技术相比，本发明包括以下优点：

本发明提供的伽玛辐照下介质材料辐射诱导电导率测量夹具，在上电极托架的下方设有上电极，下电极托架的上方设有下电极，所述上电极和下电极之间用于放置介质材料，介质材料不是直接放置在上电极托架和下电极托架之间，而是通过上电极和下电极将介质材料夹紧，测量时介质材料的上表面与上电极紧密贴合，介质材料的下表面与下电极紧密贴合，在对介质材料的上表面施加电压和测量介质材料下表面的泄漏电流时，可以更加准确，提高了伽玛辐照下测量介质材料辐射诱导电导率的准确度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种伽玛辐照下介质材料辐射诱导电导率测量夹具的结构示意图。

附图标记：

1-上电极托架、2-上电极、3-下电极、4-下电极托架、5-底座、6-安装螺丝、7-介质材料、8-正面电极、9-背面环电极、10-背面电极、11-引线、12-接线柱。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。在本发明的一个附图或一种实施方式中描述的元素和特征可以与一个或更多个其它附图或实施方式中示出的元素和特征相结合。应当注意，为了清楚的目的，附图和说明中省略了与本发明无关的、本领域普通技术人员已知的部件和处理的表示和描述。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参照图1，是本发明实施例提供的一种伽玛辐照下介质材料辐射诱导电导率测量夹具的结构示意图，本实施例中伽玛辐照下介质材料辐射诱导电导率测量夹具可以包括：上电极托架1、上电极2、下电极3、下电极托架4和底座5；其中，