[发明专利]一种化学机械抛光液以及抛光方法有效

专利信息
申请号: 201310727945.9 申请日: 2013-12-25
公开(公告)号: CN104745087B 公开(公告)日: 2018-07-24
发明(设计)人: 高嫄;荆建芬;陈宝明 申请(专利权)人: 安集微电子(上海)有限公司
主分类号: C09G1/02 分类号: C09G1/02
代理公司: 北京大成律师事务所 11352 代理人: 李佳铭
地址: 201203 上海市浦东新区张*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 化学 机械抛光 以及 抛光 方法
【权利要求书】:

1.一种化学机械抛光液,由研磨颗粒,含硅的有机化合物,大于或等于0.1mol/Kg的离子强度的电解质离子,含氮化合物及其盐组成,其特征在于,

所述化学机械抛光液的pH值在1-7之间;

所述含氮化合物及其盐为聚二甲基二烯丙氯化铵、2-氨基-2-甲基-1-丙醇、缩水甘油基三甲基氯化铵、四甲基氢氧化铵、四丁基氢氧化铵、十二烷基硫酸铵、乙酸胍、碳酸胍、磷酸胍、脲、柠檬酸铵、磷酸二氢铵、硫酸铵、草酸铵、硼酸铵、乙酸铵中的一种或多种;

所述的含氮化合物的含量为质量百分比0.05~0.5%;

所述含硅的有机化合物为3-氨基丙基三乙氧基硅烷,γ-(2,3-环氧丙氧基)丙基三甲氧基硅烷,γ-(甲基丙烯酰氧)丙基三甲氧基硅烷,γ-巯丙基三乙氧基硅烷,γ-巯丙基三甲氧基硅烷,N-(β-氨乙基)-γ-氨丙基甲基二甲氧基硅烷,γ-氨乙基氨丙基三甲氧基硅烷,γ-二乙烯三氨基丙基甲基二甲氧基硅烷,γ―氨丙基甲基二乙氧基硅烷中的一种或多种;

所述含硅的有机化合物的浓度为质量百分比 0.01%~0.5%。

2.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述电解质离子是金属离子或非金属离子。

3.如权利要求2所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述电解质离子是钾离子,铁离子,铵离子及四丁基铵离子中的一种或多种。

4.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述研磨颗粒为二氧化硅研磨颗粒。

5.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述研磨颗粒的浓度为质量百分比1%~50%。

6.如权利要求5所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述研磨颗粒的浓度为质量百分比2%~10%。

7.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述研磨颗粒的粒径为20~200nm。

8.如权利要求7所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述研磨颗粒的粒径为20~120nm。

9.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的大于或等于0.1mol/Kg的离子强度的电解质离子的浓度为0.1mol/Kg-1.0mol/Kg。

10.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述化学机械抛光液的pH值为2-6。

11.如权利要求10所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述化学机械抛光液的pH值为3-5。

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