[发明专利]集成电路的老炼方法及老炼装置

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路老炼技术，尤其涉及一种集成电路的老炼方法及老炼装置。

背景技术

信息技术的发展促使集成电路成为信息科技领域的核心部件，集成电路的可靠性已是制约信息科技等行业软硬件可靠性的关键。集成电路生产工艺的复杂性、精密性等特性会使得集成电路在制造过程中留下缺陷。对于某些可靠性要求严格的芯片，为了避免电路出现早期失效的问题，在集成电路芯片出厂前必须进行老炼测试。老炼测试技术是在一定时间内对元器件施加一定的应力，如电流、电压、温度等，且通常高于其正常工作时的使用应力，从而剔除一些有缺陷的产品，保证出厂的产品质量。

目前，一般对于普通的组合逻辑电路，可以选取敏化通路法进行老炼，对于单一的时序逻辑电路则可以采用状态变迁检查法进行老炼。但对于现代超大规模集成电路（Very Large Scale Integration，简称VLSI)，诸如SOC、多核微处理器等规模庞大，功能模块复杂繁多的集成电路，已不能简单地采用敏化通路法和状态变迁检查法来进行老炼了。为了能对大规模集成电路进行老炼，达到老炼效果，必须在集成电路设计阶段采用可测性设计。在可测性设计阶段，考虑集成电路老炼测试的策略在集成电路中设计加入相应的用于老炼测试的接口和/或电路，以便于后续老炼测试时使用。

现有技术这种在集成电路设计阶段就考虑老炼测试的策略在集成电路设计加入相应老炼测试的接口和/或电路，不仅增加了集成电路的设计难度，提高了设计成本，还使得整个老炼测试过程既包括集成电路设计过程还包括后续的测试过程，老炼过程复杂，成本高。

发明内容

本发明提供一种集成电路的老炼方法及老炼装置，以利用JTAG接口进行老炼测试，简化老炼方法。

本发明第一个方面提供一种集成电路的老炼方法，包括：

通过联合测试行动小组JTAG接口接收老炼需求信号；

根据所述老炼需求信号，采用预设的信号生成规则生成集成电路中的老炼单元进行老炼所需的老炼信号；

将所述老炼信号传输至所述集成电路中的老炼单元，以使所述老炼单元根据所述老炼信号，执行所述集成电路的老炼过程。

本发明另一个方面提供一种老炼装置，包括：

接收模块，用于通过JTAG接口接收老炼需求信号；

生成模块，用于根据所述老炼需求信号，采用预设的信号生成规则生成集成电路中的老炼单元进行老炼所需的老炼信号；

传输模块，用于将所述老炼信号传输至所述集成电路中的老炼单元，以使所述老炼单元根据所述老炼信号，执行所述集成电路的老炼过程。

由上述技术方案可知，本发明实施例利用JTAG接口接收集成电路老炼所需的老炼需求信号，并根据获取到的老炼需求信号，生成老炼信号，以使集成电路中的老炼单元根据所述老炼信号进行老炼。本发明实施例复用了I/O端口测试用的JTAG接口，无需重新设计老炼方案，老炼测试接口的连接更加简单方便，简化了集成电路老炼测试的过程，同时还降低了老炼成本。

附图说明

图1为本发明实施例一提供的集成电路的老炼方法的流程示意图；

图2为本发明实施例二提供的老炼装置的结构示意图；

图3为本发明实施例三提供的集成电路的老炼方法的原理图

图4为本发明提供的TAP控制器输出状态控制信号的原理图；

图5为本发明提供的TAP控制器根据接收到的时钟信号和模式选择信号输出的状态控制信号的电位示意图；

图6为本发明提供的老炼控制器根据所述时钟信号和所述状态控制信号输出的第一老炼使能信号和第一老炼时钟的电位示意图；

图7为本发明实施例四提供的集成电路的老炼方法的原理图；

图8为本发明提供的老炼控制器根据所述时钟信号输出的第二老炼使能信号和第二老炼信号的电位示意图，以及根据MBIST输出端的输出信号输出的MBIST自复位信号的电位示意图；

图9为本发明实施例五提供的集成电路的老炼方法的原理图。

具体实施方式