[发明专利]对TDC进行非线性校正的方法和装置

权利要求书

1.一种对TDC进行非线性校正的方法，其特征在于，包括以下步骤：

a)在探测器的扫描视野内放置放射源，并将探测器与电子学的时间偏移初始化归零；

b)探测辐射事件，记录每个TDC通道的输出次数，以获得TDC通道的计数分布；

c)选择一个TDC通道作为参考通道，使得布置在所选通道两侧的TDC通道的输出次数之和相等；

d)为所述参考通道设置一个时间，并基于所述参考通道的时间计算各TDC通道的时间。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤d)中，基于所述参考通道的时间计算各TDC通道的时间，计算式为：

Ti-1=Ti-Ni×(TΣNi),i=c,c-1,c-2,c-3,...,0;]]>

Ti+1=Ti+Ni×(TΣNi),i=c,c+1,c+2,c+3,...]]>

其中，T_i表示序号为i的TDC通道的时间，c表示参考通道的序号，N_i表示序号为i的TDC通道的输出次数，T表示TDC时钟周期。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括以下步骤：响应于探测事件，由所述计算式计算得到TDC通道对应的时间。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括以下步骤：由所述计算式计算得到时间与TDC通道的映射关系，生成时间与TDC通道的映射表，响应于探测事件，由所述映射表中查找得到TDC通道对应的时间。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤d)中，设置所述参考通道的时间为T表示TDC时钟周期。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤b)中，当满足以下条件时，探测辐射事件，记录每个TDC通道的输出次数的步骤停止：对于有效通道，所记录的TDC通道的平均输出次数大于阈值。