[发明专利]一种叶面积指数尺度下推方法及系统在审
申请号: | 201310740372.3 | 申请日: | 2013-12-27 |
公开(公告)号: | CN104748703A | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 张瑾;陈劲松;李洪忠;梁守真 | 申请(专利权)人: | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
主分类号: | G01B11/28 | 分类号: | G01B11/28 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 叶面积 指数 尺度 下推 方法 系统 | ||
技术领域
本发明属于遥感技术领域,尤其涉及一种叶面积指数尺度下推方法及系统。
背景技术
叶面积指数(Leaf Area Index,LAI)是指单位地面面积上所有叶子表面积的总和,是陆面过程中一个十分重要的结构参数,是描述植被冠层结构的最基本的参量之一,表征绿色植被时空变化的LAI可以通过卫星遥感资料进行反演。
目前已经有很多成熟的LAI产品,如美国地球观测计划(EOS)公开发布的中分辨率成像光谱仪(Moderate-resolution Imaging Spectroradiometer,MODIS)LAI产品,该产品的主算法基于严格的三向传输理论,利用了多达7个光谱波段的MODIS地表反射率信息,反演精度及时间分辨率较高,为地表植被信息的动态变化监测提供了有力的支持。然而该产品获得的LAI空间分辨率较低,在实际应用中,若能通过尺度下推(尺度下推指将遥感影像从较低分辨率提高到较高分辨率)的方式提高其空间分辨率,则可进一步提高产品地表植被信息的监测精度。
发明内容
本发明实施例在于提供一种叶面积指数尺度下推方法及系统,以进一步提高产品地表植被信息的监测精度。
本发明实施例的第一方面,提供一种叶面积指数尺度下推方法,所述方法包括:
获取分辨率成像光谱仪MODIS的监测数据,所述监测数据包括第一尺度下的植被指数、第二尺度下的植被指数以及第一尺度下的叶面积指数LAI1;
对所述第一尺度下的植被指数和第二尺度下的植被指数进行归一化处理;
基于归一化处理后的第一尺度下的植被指数和第二尺度下的植被指数,计算获得第一尺度下的植被覆盖度和第二尺度下的植被覆盖度;
基于所述第一尺度下的LAI1、第一尺度下的植被覆盖度以及第二尺度下的植被覆盖度,计算获得第二尺度下的LAI2;
其中,所述第二尺度小于第一尺度。
本发明实施例的第二方面,提供一种叶面积指数尺度下推系统,所述系统包括:
数据获取单元,用于获取分辨率成像光谱仪MODIS的监测数据,所述监测数据包括第一尺度下的植被指数、第二尺度下的植被指数以及第一尺度下的叶面积指数LAI1;
归一化处理单元,用于对所述第一尺度下的植被指数和第二尺度下的植被指数进行归一化处理;
第一计算单元,用于基于归一化处理后的第一尺度下的植被指数和第二尺度下的植被指数,计算获得第一尺度下的植被覆盖度和第二尺度下的植被覆盖度;
第二计算单元,用于基于所述第一尺度下的LAI1、第一尺度下的植被覆盖度以及第二尺度下的植被覆盖度,计算获得第二尺度下的LAI2;
其中,所述第二尺度小于第一尺度。
本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是:本发明实施例通过归一化处理后的第一尺度下的植被指数和第二尺度下的植被指数,计算获得第一尺度下的植被覆盖度和第二尺度下的植被覆盖度,并基于所述第一尺度下的LAI1、第一尺度下的植被覆盖度以及第二尺度下的植被覆盖度,计算获得尺度更小的LAI2。本发明实施例通过对已有MODIS LAI尺度下推来提高产品地表植被信息监测精度。而且本发明实施例操作方便、应用灵活,可用于叶面积指数的大区域快速提取。另外本发明实施例实现简单,对硬件要求较低,从而有利于降低产品成本,使得产品适用面更广,具有较强的易用性和实用性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明第一实施例提供的叶面积指数尺度下推方法的实现流程图;
图2是本发明第二实施例提供的叶面积指数尺度下推系统的组成结构图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
为了说明本发明所述的技术方案,下面通过具体实施例来进行说明。
实施例一:
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