[发明专利]确定曝光范围的方法和计算机断层扫描设备在审
申请号: | 201310751370.4 | 申请日: | 2013-12-31 |
公开(公告)号: | CN104739431A | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 张纪庄 | 申请(专利权)人: | 上海西门子医疗器械有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 无 | 代理人: | 无 |
地址: | 201318 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 确定 曝光 范围 方法 计算机 断层 扫描 设备 | ||
1.一种确定计算机断层扫描中曝光范围的方法,包括:
确定保护区范围[θs,θe];
对于保护区范围以外([θe-2π,θs])的各放射起始角α0,根据关注区域,计算放射附加角δ;
当α0+π+δ≤θs时,标记δ为有效放射附加角;
将曝光范围确定为[α0,min,α0,min+π+δmin],其中δmin为最小的有效放射附加角,α0,min为δmin对应的α0。
2.如权利要求1所述的方法,其特征是,所述确定保护区范围[θs,θe]为:
确定保护区范围中心的角度θ;
确定保护区范围[θs,θe]为其中ε为保护区的大小。
3.一种计算机断层扫描设备,包括:
一保护区范围确定单元,其确定保护区范围[θs,θe];
一放射附加角计算单元,其对于保护区范围以外([θe-2π,θs])的各放射起始角α0,根据关注区域,计算放射附加角δ;
一有效放射附加角标记单元,其当α0+π+δ≤θs时,标记δ为有效放射附加角;
一曝光范围确定单元,其将曝光范围确定为[α0,min,α0,min+π+δmin],其中δmin为最小的有效放射附加角,α0,min为δmin对应的α0。
4.如权利要求3所述的设备,其特征是,所述保护区范围确定单元用于:确定保护区范围中心的角度θ;确定保护区范围[θs,θe]为其中ε为保护区的大小。
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