[发明专利]多分辨率一致光栅化在审

专利信息
申请号: 201310752855.5 申请日: 2013-12-31
公开(公告)号: CN104036537A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 埃里克·B·卢姆;约翰·S·蒙提姆;沃尔特·R·斯坦纳;贾斯廷·科布;亨利·帕尔德·莫尔顿 申请(专利权)人: 辉达公司
主分类号: G06T15/00 分类号: G06T15/00;G06T1/60
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 董巍;谢栒
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 分辨率 一致 光栅
【权利要求书】:

1.一种用于光栅化对象的方法,包括:

确定与通用栅格相对应的通用分辨率;

基于所述通用分辨率和表示与所述对象相关联的几何数据的数据来计算通用边缘等式;以及

基于所述通用边缘等式和第一分辨率来确定包括多个覆盖大像素的大像素覆盖数据。

2.一种用于光栅化对象的图形处理管线,包括:

设定单元,其配置为基于通用分辨率和表示与所述对象相关联的几何数据的数据来计算通用边缘等式;以及

光栅化器单元,其配置为基于所述通用边缘等式和第一分辨率来确定包括多个覆盖大像素的大像素覆盖数据。

3.根据权利要求2所述的图形处理管线,其中所述光栅化器单元进一步配置为基于所述通用边缘等式、所述多个覆盖大像素以及第二分辨率来确定包括多个覆盖小像素的小像素覆盖数据,其中所述第二分辨率高于所述第一分辨率。

4.根据权利要求3所述的图形处理管线,其中确定所述多个覆盖大像素包括评估用于所述通用栅格中的多个大像素的覆盖,并且其中确定所述多个覆盖小像素包括评估用于所述通用栅格中的多个小像素的覆盖。

5.根据权利要求4所述的图形处理管线,其中评估用于所述通用栅格中的所述多个大像素的覆盖包括:针对所述多个大像素中的每个大像素,确定所述对象是否覆盖所述大像素的任何部分。

6.根据权利要求5所述的图形处理管线,其中评估用于所述通用栅格中的所述多个小像素的覆盖包括:针对所述多个小像素中的每个小像素,确定所述对象是否覆盖所述小像素内的样本。

7.根据权利要求6所述的图形处理管线,其中所述通用栅格中的所述多个大像素中的每个大像素具有大像素位置,并且进一步包括:针对所述多个大像素中的每个大像素,通过将所述大像素位置除以缩放因数来确定用于存储大像素覆盖数据的地址。

8.根据权利要求7所述的图形处理管线,其中所述通用栅格中的所述多个小像素中的每个小像素具有小像素位置,并且其中评估用于所述多个小像素的覆盖数据进一步包括:针对所述多个小像素中的每个小像素,通过将用于存储所述大像素覆盖数据的地址乘以所述缩放因数和添加小像素偏移来确定小像素位置。

9.根据权利要求8所述的图形处理管线,其中所述因数是基于2的幂,并且其中除用于存储所述大像素覆盖数据的地址进一步包括:依据所述缩放因数的以2为底的对数来对用于存储所述大像素覆盖数据的地址进行移位。

10.根据权利要8所述的图形处理管线,其中乘用于存储所述大像素覆盖数据的地址进一步包括:依据所述缩放因数的以2为底的对数来对用于存储所述大像素覆盖数据的地址进行移位。

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