[发明专利]用于测量散射参数的耦合组件、数据测定装置及方法

权利要求书

1.一种用于测量散射参数的耦合组件，其特征在于，包括第一探头、第二探头、与第一探头连接的第一端口及与第二探头连接的第二端口；

所述第一探头、第二探头分别用于耦合被测件的射频信号以使所述射频信号用于散射参数的测量。

2.根据权利要求1所述的耦合组件，其特征在于，所述耦合组件包括用于设置所述第一探头、第二探头、第一端口及第二端口的基板。

3.根据权利要求2所述的耦合组件，其特征在于，所述基板上设置有被测件。

4.根据权利要求2或3所述的耦合组件，其特征在于，所述第一探头和第二探头分别垂直于被测件的轴线之间的距离不等于1/2被测件内部电磁波工作波长的整数倍，且大于0小于被测件的总长度；

其中，所述第一探头和第二探头分别用于耦合被测件的射频信号，且第一探头和第二探头与被测件的耦合强度相同。

5.一种用于测量散射参数的数据测定装置，其特征在于，包括耦合组件和矢量网络分析仪；

所述耦合组件包括第一探头、第二探头、与第一探头连接的第一端口及与第二探头连接的第二端口；所述第一探头、第二探头分别用于耦合被测件的射频信号；

所述矢量网络分析仪输出端口用于与被测件的公共输入端口连接，输入端口与所述耦合组件的第一端口或第二端口连接，用于测量被测件公共输入端口至第一探头或第二探头的传输系数及第一探头和第二探头间的延迟系数，所述传输系数和延迟系数用于所述散射参数的测量。

6.一种用于测量散射参数的方法，其特征在于，包括以下步骤：

测定第一探头、第二探头及被测件的公共输入端口、输出端口形成的4端口微波网络中被测件公共输入端口到所述第一探头、第二探头的传输系数及第一探头和第二探头间的延迟系数，其中，所述第一探头和第二探头用于耦合被测件的射频信号；

根据所述传输系数和延迟系数计算被测件的散射参数。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一探头和第二探头分别垂直于被测件的轴线之间的距离不等于1/2被测件内部电磁波工作波长的整数倍，且大于0小于被测件的总长度；

其中，所述第一探头和第二探头分别用于耦合被测件的射频信号，且第一探头和第二探头与被测件的耦合强度相同。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述延迟系数的获得方式为电磁场仿真软件仿真或校准的矢量网络分析仪的测量。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述传输系数的获得方式为利用校准的矢量网络分析仪进行测量，其中，所述传输系数包括幅度和相位。

10.根据权利要求8或9任意一项所述的方法，其特征在于，所述第一探头靠近被测件的公共输入端口，所述第一探头对应被测件位置的反射系数等于-(S41-S31×G21)/(S41-S31×G12）；

所述第二探头对应被测件位置的反射系数等于-(S31-S41×G12)/(S41-S31×G21）；

其中，S31、S41为射频信号从所述被测件公共输入端口到所述第一探头、第二探头的传输系数，G12为射频信号从所述第一探头到第二探头的延迟系数，G21为射频信号从所述第二探头到第一探头的延迟系数。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，两个相同4端口微波网络其射频信号输入端口间的隔离度为（S81-S71×G12）/（S41-S31×G12）；

其中，S31、S41为一4端口微波网络中射频信号从所述被测件公共输入端口到两个探头的传输系数，S81、S71为射频信号从所述一4端口微波网络中被测件公共输入端口到另一4端口微波网络中两个探头的传输系数，G12为所述一4端口微波网络探头间的延迟系数，S31、S71所对应的探头与各自所在4端口微波网络中的其他探头相比，距所述公共输入端口的距离较近。