[发明专利]OLED模组的快速温变强化测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及OLED模组测试技术领域，特别是涉及一种OLED模组的快速温变强化测试系统。

背景技术

对于出厂的OLED模组（即OLED显示模组），需要进行各个方面的性能测试，为了检测OLED模组在高低温环境下的工作性能，一般需要对OLED模组进行快速温变强化测试。

现有的快速温变强化测试技术中，主要是依赖于人工方式的测试，在设定的温变环境下，通过将OLED模组放入温变装置内，进行高低温强化测试，然后再将OLED模组从温变装置中取出，通电后利用光学分析仪器检测OLED模组的相关颜色参数。

上述检测技术无法满足在大范围快速温变环境下对OLED模组的光学参数的测试，检测结果的准确性低，难以真实反映OLED模组的质量情况，而且测试过程需要依赖于人工方式，无法自动化进行，检测过程的效率低。

发明内容

基于此，有必要针对检测结果准确性低、检测过程的效率低的问题，提供一种OLED模组的快速温变强化测试系统的结构示意图，提高了测试的效率和准确性。

一种OLED模组的快速温变强化测试系统，包括：工控机、可编程控制器、程控电源、光谱仪、光学探头、快速温变箱和OLED模组承载装置；

所述OLED模组承载装置设于快速温变箱内，用于承载待测的OLED模组；

所述工控机分别与程控电源、可编程控制器、光谱仪和快速温变箱连接；

所述光学探头设于快速温变箱上方并连接光谱仪；

所述程控电源用于对待测的OLED模组进行供电；

所述工控机用于实时控制程控电源并读取程控电源的输出数据，通过可编程控制器控制所述程控电源输出的通断，控制光谱仪的操作并实时读取光谱仪的检测数据。

上述OLED模组的快速温变强化测试系统，通过构造包括工控机、可编程控制器、程控电源、光谱仪、光学探头、快速温变箱和OLED模组承载装置的测试系统，利用工控机设置相关软件控制就可以实现对OLED模组的快速温变强化测试的全过程控制，可以在大范围快速温变环境下对OLED模组的光学参数的测试，提高了测试结果的准确性，而且实现测试过程的自动化，提高了测试效率。

附图说明

图1为一个实施例的OLED模组的快速温变强化测试系统的结构示意图；

图2为一个优选实施例的OLED模组的快速温变强化测试系统的结构示意图；

图3为快速温变箱内部结构主视图；

图4为OLED模组夹具俯视图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的OLED模组的快速温变强化测试系统的具体实施方式作详细描述。

参考图1所述，图1为一个实施例的OLED模组的快速温变强化测试系统的结构示意图，包括工控机10、可编程控制器20、程控电源30、光谱仪40、光学探头50、快速温变箱60和OLED模组承载装置70。

所述OLED模组承载装置70设于快速温变箱60内，用于承载待测的OLED模组；所述工控机10分别与程控电源30、可编程控制器20、光谱仪40和快速温变箱60连接；所述光学探头50设于快速温变箱60上方并连接光谱仪40。

所述程控电源30用于对待测的OLED模组进行供电；所述工控机10用于实时控制程控电源30并读取程控电源30的输出数据，通过可编程控制器20控制所述程控电源30输出的通断，控制光谱仪40的操作并实时读取光谱仪40的检测数据。

本发明的OLED模组的快速温变强化测试系统，在开始运行后，通过对工控机10的软件设置，由系统软件控制将自动完成整个测试流程，提高了测试过程的测试效率，同时，减少了人工参与的影响，进一步提高了测试结果的准确性。

参考图2所示，图2为一个优选实施例的OLED模组的快速温变强化测试系统的结构示意图。

优选的，OLED模组的快速温变强化测试系统还包括与工控机10连接的防雾刷80，用于根据工控机10的控制，擦除光学探头50的镜面上的雾气。通过防雾刷80防止了雾气对光学探头50的镜面影响，提高检测精度。

优选的，OLED模组的快速温变强化测试系统还包括显示器90，所述显示器90连接工控机10，用于将工控机的各种信息进行显示。

优选的，所述工控机10可以通过但不限于RS485总线与程控电源30连接，可以通过但不限于RS232总线与可编程控制器20连接。