[实用新型]液晶模组光学测量工装

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶模组光学测量工装。

背景技术

在液晶模组的开发过程中，经常需要对液晶模组表面的光学参数进行测量和记录。长期以来，都是需要开发人员通过手工测量各个测量点的光学数据，然后再计算才能得到所需的测试结果。另外，由于液晶模组开发过程中会涉及到不同供应商的背光设备，这些设备产生的背光的光学特性又不尽相同，因此常常需要对背光进行长期的老化测试，以获得对开发人员有用的数据。这项工作持续时间长，重复性高，而且要花费一定的人力定期现场测试，因此浪费了开发人员的许多宝贵时间。

另一方面，品质检验部门为了确认物料是否合格以及完成例行的检验检测工作，也经常需要对液晶模组的光学指标进行检查确认。目前主要是通过人工点亮液晶模组，并间隔固定时间进行测试的方法来完成该项工作，同样存在效率低、测量误差较高、数据记录不精确等问题。

基于以上原因，就需要一个能够替代开发人员对液晶模组光学指标进行准确监测和测量的工装。该工装不仅能够检测液晶模组表面亮度变化，还能够将亮度的变化进行实时记录在存储设备中，并根据用户需要设置记录的时间间隔。同时，当前液晶模组上各个测量点的亮度参数还能够实时显示在外接显示屏中，便于使用者随时掌握测量状态。

实用新型内容

本实用新型提供了一种液晶模组光学测量工装，通过工装的自动测量、自动记录数据来提高测量数据的准确性，降低人工工作量，提高工作效率。

本实用新型的液晶模组光学测量工装，包括：具有多通道模/数转换输入口（ADC输入口）的MCU通过I/O（输入/输出）端口与显示模块和输入模块连接，所述MCU还通过串口（SPI）与存储模块连接，MCU的数据端口通过光电转换模块与检测液晶模组表面光学参数的光电探头相连，所述的MCU、显示模块、存储模块和光电转换模块分别与供电模块连接。

工装系统通电后，MCU首先进行上电初始化工作，然后开始获取输入模块和光电转换模块的输入信号。在完成输入的指令设置后，通过光电探头进入液晶模组表面的光学数据采集阶段。当采集到相应的数据信号后，在MCU内部完成亮度均匀性的计算，并将计算得到的亮度均匀性、最亮点、最暗点等数据通过显示模块显示出来。延时一段时间后，将采集的数据保存在存储模块中。然后MCU进入低功耗工作模式，再延时一段时间后，MCU再次进入正常工作模式，进行光学数据的“采集→分析→显示→记录”过程。直到完成系统设置的采集次数或操作人员关机为止。通过这种自动采集模拟数据，然后通过数字分析的方式，有效的提高了数据的准确性，降低了工作人员的劳动强度，同时也提高了工作效率。

优选的，所述的输入模块为小型矩阵键盘。通过小型矩阵键盘输入相应的指令设置MCU对光电转换模块输入信号的采样间隔时间，以及屏幕显示信息的保持时间。键盘模块也可以采用其它类型的键盘。

优选的，所述的显示模块为1602字符型LCD（液晶）显示模块。1602字符型的LCD显示模块为标准型的LCD液晶显示模块，具有应用广泛、稳定性好、成本低等特点。也可以是其它类型的显示模块。

优选的，所述的存储模块包括SD存储卡（Secure Digital Memory Card）和对应的SD卡插座。SD卡在许多设备中都有应用，如手机、数码相机等。MCU完成对光学数据的采集、显示后，将采集的数据通过存储模块保存起来，便于用户进行更多分析处理工作。存储模块不局限于SD卡，也可为其它类型的数据存储装置。

具体的，光电转换模块的信号处理输入端口的数量与光电探头的数量相匹配。光电转换模块由多路信号处理电路实现。每路信号端口对应一个光电探头，多个光电探头可以分别不同的背光设备进行检测。光电探头输入的信号通过对应的通道经信号处理电路首先进行电平变换，转换成适合MCU的电平范围，然后通过光电转换模块内的运算放大器构成的同相缓冲电路再送入MCU中。光电转换模块也可以通过其它能够实现相同功能的电路来完成。

本实用新型的液晶模组光学测量工装，通过工装的自动测量和自动记录数据，能够有效的提高测量数据的准确性，明显降低了人工的工作量，并且提高了工作效率。

以下结合实施例的具体实施方式，对本实用新型的上述内容再作进一步的详细说明。但不应将此理解为本实用新型上述主题的范围仅限于以下的实例。在不脱离本实用新型上述技术思想情况下，根据本领域普通技术知识和惯用手段做出的各种替换或变更，均应包括在本实用新型的范围内。

附图说明

图1为本实用新型液晶模组光学测量工装的结构框图。