[实用新型]一种三合一读卡器有效
申请号: | 201320019136.8 | 申请日: | 2013-01-15 |
公开(公告)号: | CN203054858U | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 刘平华 | 申请(专利权)人: | 刘平华 |
主分类号: | G06K7/00 | 分类号: | G06K7/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 三合一 读卡器 | ||
技术领域:
本实用新型涉及一种电脑内存卡,具体涉及一种适用于所有测量设备对零件卡槽的PCBA焊接性检测的三合一读卡器。
背景技术:
目前,现有的检测(XD&SD&MSP)技术为单卡检测技术,测试SD、XD和MSP时要插到测试板上分别测试,生产效益低,已不能满足产线作业需求。
实用新型内容:
本实用新型的目的是提供一种三合一读卡器,它能克服现有技术的弊端,通过整合设计,由目前的单卡测试设计改为三合一卡测试,极大地提高了产线效益。
为了解决背景技术所存在的问题,本实用新型是采用以下技术方案:它包括XD卡1、SD卡2、MSP卡3,XD卡1、SD卡2和MSP卡3的左右两侧均设置有连接孔4,XD卡1、SD卡2、MSP卡3之间通过连接销5依次连接。
本实用新型通过三合一卡测试的金手指与(XD&SD&MSP)零件卡槽内部接脚的接触,在PCBA上形成的测量回路,在通过PCBA量测点量测3inone回路以此检测出SD卡1、SD卡2及MSP卡3的插槽零件与PCB板焊接状况,确保产品良率。
本实用新型能克服现有技术的弊端,通过整合设计,由目前的单卡测试设计改为三合一卡测试,极大地提高了产线效益,同时为企业降低了成本。
附图说明:
图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式:
参看图1,本具体实施方式采用以下技术方案:它包括XD卡1、SD卡2、MSP卡3,XD卡1、SD卡2和MSP卡3的左右两侧均设置有连接孔4,XD卡1、SD卡2、MSP卡3之间通过连接销5依次连接。
本具体实施方式通过三合一卡测试的金手指与(XD&SD&MSP)零件卡槽内部接脚的接触,在PCBA上形成的测量回路,在通过PCBA量测点量测3inone回路以此检测出SD卡1、SD卡2及MSP卡3的插槽零件与PCB板焊接状况,确保产品良率。
本具体实施方式能克服现有技术的弊端,通过整合设计,由目前的单卡测试设计改为三合一卡测试,极大地提高了产线效益,同时为企业降低了成本。
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