[实用新型]环境温度试验综合测控系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种环境温度试验综合测控系统。

背景技术

仪器设备的环境可靠性作为产品性能质量的关键性因素一直是业界关注的焦点，采取了大量技术手段来确保产品可靠性的实现。对于外界温度的影响，现有的普遍做法是以温度试验箱为实验设备，将内部空气温度和湿度控制在目标值，保持固定时间，然后取出，看设备是否能正常运行，或检查设备是否有损坏的部位。

现有的温度试验检验手段是以实验过后工作性能判别为基础的，在进行试验过程中，无法探知待测试件表面与温度相关的应力变化，无法与仿真设计对比进而更改可靠性设计。另外，如能及时监测到破坏发生的应力变化，则能缩短试验时间，减少试验设备损耗。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种环境温度试验综合测控系统。

本实用新型提出的环境温度试验综合测控系统，由温度试验箱1、传感器2、温度、应变数据采集设备3和温箱驱动控制接口4组成，其中：温度试验箱1内放置传感器2和待测试件，传感器2连接待测试件，传感器2的输出端连接温度、应变数据采集设备3的输入端，温度、应变数据采集设备3的输出端通过温箱驱动控制接口4连接温度试验箱1的输入端。

本实用新型中，所述传感器2采用温度及应变传感器。

本实用新型的工作过程如下：

在温度试验箱1内部安放待测试件，并布置传感器和待测试件。试验开始后，通过传感器采集、记录并监测温度信号和应变信号。同时温度、应变数据采集设备3和温度试验箱1以数字端口连接，在信号数值超限之后关停温度试验箱。其中：对温度和应变信号采用多物理量信号数据采集来完成。

 本实用新型的有益效果在于：

1.  提供温度试验过程中，应力与温度变化过程的数据，方便与仿真数据进行对比，修改温度可靠性设计；

2.  可对应力进行实时监测，发现破坏事件点，即时停止温度试验，并通知试验人员，节省试验时间和设备损耗。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为本实用新型的工作流程图。

图中标号：1为温度试验箱，2为传感器，3为温度、应变数据采集设备，4为温箱驱动控制接口。

具体实施方式

下面通过实施例结合附图进一步说明本实用新型。

实施例1：

如图1所示，本装置由温度试验箱1、传感器2、温度、应变数据采集设备3和温箱驱动控制接口4组成，其中：其中：传感器2和待测试件放置于温度试验箱1内，传感器2贴于待测试件上方，传感器2的输出端连接温度、应变数据采集设备3的输入端，温度、应变数据采集设备3的输出端连接温箱驱动控制接口4的输入端，温箱驱动控制接口4的输出端连接温度试验箱1的输入端。所述传感器2采用温度及应变传感器，其型号为K型热电偶和应变片，温度试验箱1的型号为重庆银河步入式温度试验箱，温度、应变数据采集设备3的型号为NI PXI数据采集系统，温箱驱动控制接口4的型号为DB9数字输入输出端口。

将上述装置用于一款便携式的环境参数信号数据采集系统中，使用NI公司的PM1115屏幕显示及键盘套件与8槽PXI机箱构成。PXI机箱中安装了PXI系统控制器和数据采集板卡。

数据调理模块安装在机箱顶部。数据调理模块有统一的信号连接端口，可使用接线端子与外部信号线连接。数据采集板卡含有数字IO端口，与温度试验箱1（重庆银河）进行通讯。数据采集系统可由软件对数据调理模块进行任意单通道的配置、采集、分析和记录。对应力数据进行监测，当应力数据高于或低于目标限值，将温度试验箱1停止，对应变片所处位置进行检查，获得产品破坏的信息。