[实用新型]一种电芯短路测试机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电芯短路测试机构。

背景技术

目前，在采用现有的测试机构对电芯进行短路测试时，由于现有测试机构探针的接触端过于尖锐，当探针下压时，探针的接触端与电芯的极耳为点接触，电芯的极耳容易被刺伤、压弯变形，从而损坏电芯。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型的目的旨在于提供一种电芯短路测试机构，其能避免电芯的极耳被探针刺伤、压弯变形，防止损坏电芯。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种电芯短路测试机构，包括：测试台，固定在测试台上的极耳定位板，位于极耳定位板上方并由一升降装置驱动其上下活动的活动座，以及上端固定连接在活动座上的正极探针、负极探针、电芯壳体探针；其中，所述升降装置固定在测试台上，正极探针和负极探针的下端均连接有一位于极耳定位板上方的探针接触板。

其中，所述升降装置为气缸。

其中，所述探针接触板为方形、圆形或椭圆形。

本实用新型所阐述的一种电芯短路测试机构，其有益效果在于：

与现有技术相比，本实用新型通过在正极探针和负极探针的下端连接探针接触板，增大了正极探针和负极探针接触电芯极耳的接触面，测试时正极探针、负极探针与电芯极耳的接触为面接触，能避免电芯的极耳被正极探针或负极探针刺伤，并且由极耳定位板在正极探针和负极探针下压时支撑电芯极耳，能避免电芯极耳被压弯变形，从而防止损坏电芯，有效提升了电芯的品质。 

附图说明

图1是本实用新型实施例的结构示图。

附图标记说明：

10、测试台；20、极耳定位板；30、活动座；40、正极探针；50、负极探针；60、电芯壳体探针；70、探针接触板。

具体实施方式

下面结合附图与具体实施例来对本实用新型作进一步描述。

请参照图1所示，其显示出了本实用新型较佳实施例的具体结构，一种电芯短路测试机构，包括测试台10、极耳定位板20、活动座30、正极探针40、负极探针50以及电芯壳体探针60，其中：

所述极耳定位板20固定在测试台10上，用于支撑电芯极耳。

所述活动座30位于极耳定位板20的上方，并由一升降装置（未图示）驱动该活动座30上下活动，升降装置固定在测试台10上，其可为气缸、液压缸或者电动缸。

所述正极探针40、负极探针50和电芯壳体探针60的上端均固定连接在活动座30上，并且，正极探针40和负极探针50的下端还都连接有一位于极耳定位板20上方的探针接触板70，探针接触板70为方形、圆形或者椭圆形，也可以是其它的形状，用于防止正极探针40或负极探针50刺伤电芯极耳。

使用时，将电芯放在极耳定位板20上，驱动装置驱动活动座30下降，正极探针40下压使正极探针40下端的探针接触板70与电芯正极极耳接触，负极探针50下压使负极探针50下端的探针接触板70与电芯负极极耳接触，电芯壳体探针60下压与电芯外壳接触，由于探针接触板70的存在，增大了正极探针40和负极探针50接触电芯极耳的接触面，测试时正极探针40、负极探针50与电芯极耳的接触为面接触，能避免电芯的极耳被正极探针40或负极探针50刺伤，并且由于极耳定位板20在正极探针40、负极探针50下压时支撑电芯极耳，能避免电芯极耳被压弯变形，从而防止损坏电芯，有效提升了电芯的品质。

以上所述，仅是本实用新型较佳实施例而已，并非对本实用新型的技术范围作任何限制，故凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。