[实用新型]一种微弱光检测仪的暗室

说明书

本实用新型涉及一种微弱光检测仪的暗室，属于微弱光探测领域。

微弱光检测仪采用先进的光子计数检测技术，可实现对极微弱光信号的探测，故仪器的避光处理成为设计的重点。对于微弱光检测仪，现有技术中采用仪器外壳整体避光的方式，完全通过仪器外壳隔绝外部全部可见光。测试样品时，需要打开翻盖，将待测品放入相应管位，然后将仪器的上壳与下壳闭合。为了达到更好的避光效果，一般将上、下壳衔接处设计成凹凸槽结构，如图1所示，当上壳10与下壳20闭合时，上壳的凸槽11扣进下壳的凹槽22内，起到了更好避光的效果。

然而，依靠仪器外壳整体避光的方法存在一定缺陷，因为仪器内部的某些器件带有指示灯(例如电机驱动器)或其它发光器件，甚至仪器外壳上有时需要安装指示灯等发光器件，这些都会对测试产生弱光影响，从而影响仪器探头测试的本底值。

本实用新型的目的在于克服现有技术中的上述不足，提供一种微弱光检测仪的暗室，以消除仪器内部器件产生的光带来的干扰。

本实用新型的目的是通过以下方式实现的：

一种微弱光检测仪的暗室，包括样品转盘1、轴承套2、暗室底盘3、螺栓套4、支架5、轴6、暗室盖7、电机8、支柱9，其特征在于：暗室盖7与暗室底盘3扣合在一起形成暗室，样品转盘1被密封在所述暗室内；

所述微弱光检测仪的暗室，其特征在于：暗室盖7上面设有环形孔70，并且暗室底盘3上的光采集口30设在环形孔70的对角线上；

所述微弱光检测仪的暗室，其特征在于：轴承套2与暗室底盘3的衔接处涂有密封胶；

所述微弱光检测仪的暗室，其特征在于：样品转盘1与轴6螺钉连接，通过轴承套2固定在电机8的转轴上。

与现有技术相比，本实用新型的暗室结构有效地屏蔽了仪器内部某些器件发光的影响，保证了仪器本底值的正常。此外，采用暗室结构降低了外壳加工的难度，从而降低了外壳成本。

图1为现有技术中微弱光检测仪的整体避光结构示意图；

图1为现有技术中微弱光检测仪的整体避光结构示意图；

图2为本实用新型中微弱光检测仪的暗室结构示意图；

图3为本实用新型中暗室盖与暗室底盘的凹凸扣合结构放大图；

图4为本实用新型中环形孔和光采集口的位置关系示意图；

图5为本实用新型中环形孔的结构示意图。

下面结合附图具体说明本实用新型的实施方式。

如图2所示，本实用新型中微弱光检测仪的暗室结构，包括：样品转盘1、轴承套2、暗室底盘3、螺栓套4、支架5、轴6、暗室盖7、电机8、支柱9。支架5固定在支柱9上，支架5支撑暗室底盘3，暗室盖7与暗室底盘3通过凹凸槽结构扣合在一起形成暗室，样品转盘1被密封在暗室内。样品转盘1与轴6螺钉连接，通过轴承套2固定在电机8的转轴上，轴承套2起支撑和密封作用。轴承套2通过螺栓套4固定在支架5上。同时，电机也固定在支架5上。

如图4所示，暗室盖7上设有环形孔70，以便将样品放入样品转盘内。环形孔70的结构如图5所示。暗室底盘3上设有光采集口30，由光采集口30引出光纤与探测器相连。微弱光检测仪工作时，电机8通电旋转，通过轴6带动样品转盘1旋转，微弱光检测仪对位于光采集口30处的样品进行测试。

为了使暗室避光的效果更好，应做好以下细节工作：

(1)在轴承套2与暗室底盘3的衔接处涂少量密封胶；

(2)将暗室盖7与暗室底盘3的扣合处设计成凹凸槽结构，如图3所示：71为暗室盖7的下边缘，31为暗室底盘3的下边缘，两者通过凹凸槽结构扣合在一起；

(3)为了将暗室盖7上面的环形孔70的漏光影响降到最低，需要将暗室底盘3上的光采集口30设在环形孔70的对角线上，如图4所示。

虽然暗室盖上面设有环形孔，但由于光采集口设在环形孔的对角线上，经大量测试数据显示，对仪器本底值无任何影响。