[实用新型]可消除连接线电阻误差的仪表测试装置有效
申请号: | 201320031537.5 | 申请日: | 2013-01-21 |
公开(公告)号: | CN203164403U | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
发明(设计)人: | 邹敏琦 | 申请(专利权)人: | 上海共联通信信息发展有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 赵继明 |
地址: | 200083 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 消除 连接线 电阻 误差 仪表 测试 装置 | ||
1.一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置,其特征在于,包括第一处理器、第二处理器、主处理器、显示屏及若干条测试连接线,所述的第一处理器和第二处理器分别通过测试连接线与待测仪表连接,所述的主处理器一端分别连接第一处理器和第二处理器,另一端与显示屏连接。
2.根据权利要求1所述的一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置,其特征在于,所述的测试连接线设有至少四条。
3.根据权利要求1所述的一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置,其特征在于,所述的第一处理器和第二处理器中均设有仪表测试电路和按键控制面板。
4.根据权利要求1所述的一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置,其特征在于,所述的第二处理器中设有测试电阻。
5.根据权利要求1所述的一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置,其特征在于,所述的待测仪表上设有多个测试端口,分布设置在待测仪表两端。
6.根据权利要求5所述的一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置,其特征在于,所述的每个测试端口均分别连接第一处理器和第二处理器。
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