[实用新型]基于光学相干层析扫描的三维孔形检测系统有效
申请号: | 201320035316.5 | 申请日: | 2013-01-23 |
公开(公告)号: | CN203069151U | 公开(公告)日: | 2013-07-17 |
发明(设计)人: | 刘茂珍;李喜锦;李育华 | 申请(专利权)人: | 刘茂珍;李喜锦;李育华 |
主分类号: | G01B11/22 | 分类号: | G01B11/22;G01B11/08;G01N21/45 |
代理公司: | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 | 代理人: | 陈跃琳 |
地址: | 535424 广西壮*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 光学 相干 层析 扫描 三维 检测 系统 | ||
1.基于光学相干层析扫描的三维孔形检测系统,其特征在于:
主要由光学相干层析成像装置(1)、系统光纤准直器(4)、二维扫描振镜(5)、扫描物镜(6)、纵移平台(3)、平移平台(8)和计算机(9)组成;
纵移平台(3)和平移平台(8)均与计算机(9)相连,计算机(9)控制纵移平台(3)和平移平台(8)的运动;系统光纤准直器(4)、二维扫描振镜(5)、扫描物镜(6)固定在纵移平台(3),并跟随纵移平台(3)运动;待测的电路板(7)放置在平移平台(8)上,并跟随平移平台(8)运动;纵移平台(3)垂直位于平移平台(8)的正上方;
光学相干层析成像装置(1)与计算机(9)相连;光学相干层析成像装置(1)发出的探测光由光纤(2)进入系统光纤准直器(4),系统光纤准直器(4)将探测光准直后进入到二维扫描振镜(5)进行二维扫描,二维扫描振镜(5)输出的光经扫描物镜(6)进行聚焦后进入放置在平移平台(8)上的电路板(7),电路板(7)产生的反射光经原路即依次经扫描物镜(6)、二维扫描振镜(5)和系统光纤准直器(4)后返回至光学相干层析成像装置(1),由光学相干层析成像装置(1)获得干涉信号后送入计算机(9)。
2.根据权利要求1所述基于光学相干层析扫描的三维孔形检测系统,其特征在于:
纵移平台(3)和平移平台(8)的组合为以下3种之一,即:
纵移平台(3)仅由Z轴运动电机构成时,平移平台(8)由X轴电机和Y轴运动电机组成;
或纵移平台(3)由Z轴运动电机和X轴运动电机组成时、平移平台(8)仅由Y轴运动电机构成;
或纵移平台(3)由Z轴运动电机和Y轴运动电机组成时、平移平台(8)仅由X轴运动电机构成。
3.根据权利要求1或2所述基于光学相干层析扫描的三维孔形检测系统,其特征在于:
光学相干层析成像装置(1)为频域光学相干层析成像装置,此时该光学相干层析成像装置(1)主要由扫频光源(10)、光纤环形(11)、光纤耦合器(12)、2个偏振控制器(13、17)、光纤准直器(14)、反射镜(15)和平衡探测器(16)组成;
扫频光源(10)发出宽带扫频光,进入到光纤环形(11),然后进入到光纤耦合器(12),由光纤耦合器(12)分成两束光,其中一束由第一偏振控制器(13)和光纤准直器(14)进入反射镜(15)进行反射后经原路回到光纤耦合器(12);另一束由第二偏振控制器(17)输出到系统光纤准直器(4)和二维扫描振镜(5)进入到扫描物镜(6),由扫描物镜(6)聚焦到于电路板(7);电路板(7)的反射光经原路回到光纤耦合器(12);两路反射光在光纤耦合器(20)中形成干涉;平衡探测器(16)同时接收光纤环形(11)和探测光纤耦合器(12)返回的干涉信号后送入计算机(9)。
4.根据权利要求1或2所述基于光学相干层析扫描的三维孔形检测系统,其特征在于:
光学相干层析成像装置(1)为谱域光学相干层析成像装置,此时该光学相干层析成像装置(1)主要由宽带连续光源(18)、光隔离器(19)、光纤耦合器(20)、3个偏振控制器(21、22、25)、2个光纤准直器(23、26)、反射镜(24)、光栅(27)、光谱物镜(28)和线扫描相机(29)组成;
宽带连续光源(18)发出宽带光谱,经光隔离器(19)进入到光纤耦合器(20),由光纤耦合器(20)分成两束,其中一束经第一偏振控制器(21)和第一光纤准直器(23)进入反射镜(24),由反射镜(24)反射后经原路回到光纤耦合器(20);另一束经第二偏振控制器(22)输出到系统光纤准直器(4)和二维扫描振镜(5)进入到扫描物镜(6),由扫描物镜(6)聚焦到电路板(7),电路板(7)的反射光经原路回到光纤耦合器(20);两路反射光在光纤耦合器(20)中形成干涉;干涉光经第三偏振控制器(25)、第二光纤准直器(26)进入到光栅(27)后分成各个准单色光,经光谱物镜(28)聚焦到线扫描相机(29),线扫描相机(29)的输出连接计算机(9)。
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