[实用新型]高压开关筒体以及使用该筒体的高压开关有效

专利信息
申请号: 201320038017.7 申请日: 2013-01-24
公开(公告)号: CN203134662U 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 郭学凤;林麟;王肖斌 申请(专利权)人: 河南平高电气股份有限公司;平高集团有限公司;国家电网公司
主分类号: H01H33/53 分类号: H01H33/53
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人: 陈浩
地址: 467001 *** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 高压 开关 以及 使用
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及高压电气设备领域,尤其是一种高压开关筒体以及使用该高压开关筒体的高压开关。

背景技术

高压开关筒体是高压开关设备中极为常见的部件之一,其在使用时往往需要通过两端与对应的端接件(另一高压开关筒体或者盖板)连接,如通过两端与另外的两个高压开关筒体对接或者通过一端与另一高压开关筒体对接,另一端被相应的盖板密封,但是,不管是以何种方式与何部件连接,都需要严格保证高压开关筒体与端接件的配合处的密封性能,目前,高压开关筒体与端接件之间的密封配合均是靠密封圈来实现的,具体的说,高压开关筒体包括筒体,筒体的至少一端设有用于与对应的端接件密封配合的密封结构,该密封结构包括设于筒体的对应端的法兰盘,法兰盘的一侧为连接侧(用于与端接件配合的一侧),另一侧为背侧,连接侧上设有密封圈槽,所述密封圈便装配在该密封圈槽中,当高压开关筒体与相应的端接件连接时,密封圈被压装在二者之间并实现二者之间的密封,因此若密封圈的设计、使用不当,则会直接导致高压开关筒体与端接件的配合处的密封失效,在使用初期,若设计、使用恰当,密封圈是可以很好的保证高压开关筒体与端接件的配合处的密封性能的,但是经过一段时间的使用后,伴随着密封圈的老化也同样会使高压开关筒体与端接件之间的密封失效,而高压开关筒体与端接件的配合处的密封一旦失效,将极有可能导致事故的发生。因此检测密封圈是否有效是避免事故发生的必要手段。

现有技术中,对高压开关筒体与端接件之间的密封圈的检测是通过相应的检漏设备进行的,其具体操作方法是沿高压开关筒体与端接件的配合处检测一周,从而来确保密封圈各个位置处的密封性能,然而这种检漏方式不仅费时费力,而且会因为检测环境的影响而导致检测结果的不可靠性,例如,当在有空气流动的环境中进行检测工作时,检测结果自然是不准确的。

综上所述,目前的高压开关筒体在使用时存在检漏费时费力以及密封性能无法保证的问题。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种高压开关筒体,以解决目前的高压开关筒体在使用时存在检漏费时费力以及密封性能无法保证的问题。

同时,本实用新型的目的还在于提供使用上述高压开关筒体的高压开关。

为了解决上述问题,本实用新型的高压开关筒体采用以下技术方案:高压开关筒体,该高压开关筒体的至少一端设有用于与适配端接件密封配合的密封结构,该密封结构包括设于筒体对应端的法兰盘以及设于法兰盘的连接侧上的密封圈,法兰盘的连接侧外缘处具有用于与适配端接件密封配合的密封部,并且法兰盘中设有检测通道,检测通道具有位于法兰盘连接侧上的连通口以及与所述连通口连通的检测口,连通口在法兰盘的连接侧上位于密封部与密封圈槽之间的位置处,检测口用于与对应的检漏设备配合并且被其中装配的堵头密封。

法兰盘的连接侧上设有走气槽,走气槽围绕密封圈并且与检测通道的连通口直接连通。

所述走气槽的断面呈V形。

所述检测通道由贯穿法兰盘的背侧和连接侧的通孔构成。

所述的堵头为螺纹装配在检测通道的检测口中的螺栓。

本实用新型的高压开关采用以下技术方案:高压开关,包括筒体,筒体的至少一端通过法兰盘连接有端接件,筒体通过设于其法兰盘的连接侧与端接件之间的密封圈与端接件密封配合,筒体的法兰盘连接侧外缘处与对应的端接件之间密封配合,并且筒体的法兰盘和/或端接件中设有检测通道,检测通道具有在筒体的法兰盘连接侧的连通口以及与所述连通口相通的检测口,检测口在筒体的法兰盘连接侧位于密封圈的外围处、位于筒体的法兰盘连接侧外缘与端接件密封配合部位的内侧处,检测口用于与对应的检漏设备配合并且被其中装配的堵头密封。

仅筒体的法兰盘中设有所述的检测通道,检测通道的连通口位于筒体的法兰盘连接侧上。

所述检测通道由贯穿法兰盘的背侧和连接侧的通孔构成。

法兰盘的连接侧上设有走气槽,走气槽围绕密封圈并且与检测通道的连通口直接连通。

所述走气槽的断面呈V形。

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