[实用新型]一种综合测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量、测试技术领域，更具体地，涉及一种综合测试系统。

背景技术

测量是按照某种规律，用数据来描述观察到的现象，即对事物作出量化描述。测量是对非量化实物的量化过程。测量对象：主要指几何量，包括长度、角度、表面粗糙度以及形位误差等。由于几何量的特点是种类繁多，形状又各式各样，因此对于他们的特性，被测参数的定义，以及标准等都必须加以研究和熟悉，以便进行测量。而测试则是测定、检查、试验的意思。

目前测量、检测的设备、仪器越来越多，但均是针对某一项特定的功能进行检测，例如示波器只能看电信号的波形、振动仪只能看物体的振动幅度、功率计只能测量功率、频率计只能测量频率、数据采集器只能采集温度，焓差工况室只能进行性能的测试等等。而在机电一体化的产品中，这些测试只能单独测量，各种参数完全独立，缺乏系统性，关联性；由于没有系统的综合参数，对问题的解决只能凭经验手动解决技术问题，各种专业人员不能有效从系统上，根本上解决问题。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种综合测试系统，其采集数据，中央处理器根据采集的数据显示、存贮、运算，综合的解决测量、测试的技术问题。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种综合测试系统，其中，包括

一中央处理器，用于将采集模块的信息进行存贮、运算；

一采集模块，采集模块与中央处理器连接，中央处理器接收采集模块采集到的数据；

一通信模块，通信模块一端与中央处理器连接，另一端与被测系统或被测点连接，监控被测系统的中央处理器变量或被测点的变化状态；

一用户界面，其与中央处理器连接，用于接收中央处理器的信号并进行显示。

首先采集模块采集被测系统或被测点的数据，然后采集模块将采集到的数据传送到中央处理器，中央处理器对各种参数数据进行互耦、解耦，能对测量数据存贮、运算处理，并通过用户界面显示，上述数据的存贮、运算可通过用户电脑自定义编程设置或者应用中央处理器中原来设置的程序，而且还设有通信模块，通过通信模块可监控被测系统的中央处理器变量或被测点的变化状态，随时让中央处理器检测到其变化，作出调整，更好的从系统上解决问题。

进一步，所述的中央处理器包括存贮器和运算器，存贮器用于存贮采集模块采集到的数据，运算器用于对该数据进行运算。其中，存贮器可以保存测量的数据，运算器可分析数据，回放、后期再分析的功能，而且具有互耦、解耦的功能。

进一步，所述的采集模块包括数据采集卡、转速采集卡、温度采集卡、示波卡，数据采集卡与多个传感器连接，转速采集卡与多个转速传感器连接，温度采集卡与多个温度传感器连接，示波卡与多个电压传感器、电流传感器连接。该数据采集卡与多个传感器连接，多个传感器可感应到如风量、机械振动、机械硬力、压力等方面的信号，然后把传感器的信号输入数据采集卡，中央处理器再对信息进行存贮、运算；多个转速传感器可感应到转速的信号，然后把转速输入转速采集卡，中央处理器再对信息进行存贮、运算；温度传感器可感应温度的信号，然后把温度输入到温度采集卡，中央处理器再对信息进行存贮、运算；电压传感器、电流传感器可感应电压、电流的信号，然后输入示波卡，中央处理器再对信息进行存贮、运算。进一步的，还采集模块还包括附加采集卡，附加采集卡与多个附加传感器连接，附加传感器可感应除上述感应器感应到的其它信号，如频率信号，加速度信号、波形信号等，综合的测量上述的多种信号，再通过中央处理器再对信息进行存贮、运算。

进一步，所述的用户界面为显示器。该显示器可为触摸功能的显示器，当中央处理器进行互耦、解耦，存贮、运算后，将结果在显示器上显示，使用户可直观的查看数据，而且由于设有通信模块，通过通信模块监控被测系统的中央处理器变量或被测点的变化状态，再在显示器上显示，方便的用户的使用，一旦被测系统的中央处理器变化或被测点的变化，即可马上显示，即时监控。

进一步，综合测试系统还包括通信口，通过此通信口使中央处理器与外部设备连接。外部设备为如电脑主机或其它的设备，外部设备可以对中央处理器里面的存贮、运算程序进行编程或者监控，其开放性高，不受仪器影响。

进一步，通信口为串口或并口或USB接口。上述的接口都可以实现连接，而且方便使用。

进一步，综合测试系统还包括无线收发模块，中央处理器通过无线收发模块与外部的设备无线连接。外部设备为如电脑主机或其它的设备，外部设备可以对中央处理器里面的存贮、运算程序进行编程或者监控，无线连接的方式更加的直接，减少了线路的使用。