[实用新型]多路阻值自动化测量系统

说明书

技术领域

本专利涉及一种全自动多路阻值测量系统，具体指一种多路阻值自动化测量系统。

背景技术

传统红外探测器组件老化试验中，光敏元阻值测试需先断开电源及其限流电阻，而后通过真空容器引出的连线定期手动测出,这样大大增加了电阻测试的不准确性和不方便性，同时测出的数据需要人工录入数据，试验过程中容易产生错误，积累的数据量极为有限，数据处理速度慢，不能进行实时处理。

发明内容

基于上述研究多路红外探测器阻值测试的困难，本专利公开了一种高可靠度的全自动多路阻值测量系统，其包括电路保护单元、多路电子开关阵列及数据采集器、限流电阻、老化电源及计算机，其特征在于多路元器件老化试验和测量自动切换、电阻测量过程自动化、采集获得数据计算机存储、高可靠度。

其中：

所述的多路电子开关阵列是一个多路单刀双闸开关阵列，它由多片SPDT芯片ADG1634组成，任一开关的通断由开关阵列内置的单片机控制，同时开关阵列通过数据采集器的数字量输入输出DIO与数据采集器通信；

所述的数据采集器为fluke 2620A，其有RS232数据通信接口和数字量输入输出接口D0~D7；

所述的电路保护单元是由保险丝、滤波电容以及三种浪涌抑制器件组成，其中，采用的三种浪涌抑制器件分别为气体放电管、抑制二极管TVS及压敏电阻；

所述的老化电源采用大华15V恒压电源；

所述的计算机中装有Labview软件；

老化电源作为整个老化试验元器件的供电电源，老化电源后接有电路保护单元，电路保护单元后接的电路被分成64个支路，每个支路均包含接着一个限流电阻X、一个SPDT开关和一个被测元器件，其中，限流电阻X根据每个支路的被测元器件不同，阻值也不同，其阻值范围为4~10KΩ；SPDT开关为多路开关阵列的一个支路形式，SPDT开关一端A_X接限流电阻X，另一端B_X接数据采集器的输入端，SPDT开关的公共端C_X接待测元器件的非公共端1~64；待测元器件的公共端D接数据采集器的输出端、非公共端1~64分别接到SPDT开关的公共端C_X。

当64路待测元器件中的任意一个元器件有测试要求时，计算机通过RS232接口通信将数据采集器DIO中的D0为置低，以表示有元器件等待测试；多路电子开关阵列读到置低信号后，开关阵列切换该路元器件对应的SPDT开关状态，SPDT的闸刀从A_X触点切换到B_X触点，即断开该路元器件与老化电源连接，将其接通至数据采集器，完成元器件的试验状态与测试状态的自动切换；同时计算机通过RS232接口向数据采集器发送测试命令，对切换过来的元器件进行阻值测量，实现阻值自动测试的目的；计算机发送向数据采集器的RS232接口方式命令的方式，将测量数据转移至计算机进行存储；最后计算机置低数据采集器的DIO中的D1位，向多路开关阵列发送测试完毕信号；多路电子开关阵列读取D1置低信号，切换开关，将该路元器件与老化电源连接，元器件返回老化试验状态。

本专利的最大优点是：可靠度高，可确保流过器件的电流变化小于0.1mA,，确保元器件不会在试验过程和测试过程中受到损伤，可自动化实现64路元器件同时试验而独立测试，自动数据存储，可大大提高元器件老化数据采集的速率、准确度、数据量。

附图说明

图1为本专利的电路原理图。

图2本专利工作流程图。

具体实施方式

下面结合附图，对本专利的具体实施方式作进一步的详细说明：

将5路待测元器件按照原理图1接线，即将5路元器件一端分别接到开关阵列接头C_1~C_5，另一端接到公共端D，D接到数据采集器的输出端；老化电源采用北京大华无线电仪器厂的DH1718E-5型双路跟踪稳压电源，当计算机上点击开始测试按钮时，系统运行的步骤如图2：

1、选定需要测试的元器件回路编号形成待测队列，计算机向多路电子开关阵列发送测试开始命令。

2、多路电子开关阵列切换回路编号最小的单刀双闸开关，将该路元器件连接至数据采集器，同时向数据采集器发送开关就位信号。

3、计算机从数据采集器上读取多路电子开关阵列发出的开关就位信号，若读取到开关就位信号，计算机则向数据采集器发送数据采集命令，并等待数据采集器的回馈信息；

4、计算机接受到数据采集器返回有效数据，将返回的有效数据进行存储，并向多路电子开关阵列发送数据采集完毕信号，从待测队列中清除编号最小的元器件。

5、重复步骤2~4，对所有待测的元器件进行测试。