[实用新型]一种用于半导体激光器的温控装置

权利要求书

1.一种用于半导体激光器的温控装置，其特征在于，所述装置包括：

用于测量所述半导体激光器的工作温度的测温模块，用于将所述测温模块测量的工作温度与预定的基准温度进行比较，得到比较结果的比较模块，以及用于根据所述比较模块得到的比较结果，调节所述半导体激光器的工作温度的调节模块，所述比较模块分别与所述测温模块和所述调节模块连接。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述比较模块包括第一对称电阻、第二对称电阻、第一电位器和电源；

所述第一对称电阻与所述第二对称电阻的一端连接，且所述第一对称电阻与所述第二对称电阻的连接点接所述电源，所述第一电位器与所述测温模块的一端连接，且所述第一电位器与所述测温模块的连接点接地，所述第一对称电阻与所述第一电位器的另一端连接，所述第二对称电阻与所述测温模块的另一端连接，所述第一对称电阻和所述第二对称电阻的阻值相等。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述比较模块还包括放大电路，所述放大电路包括第一运算放大器、第二运算放大器、第三运算放大器、第二电位器、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、以及第六电阻；

所述第一运算放大器的同相输入端与所述第一对称电阻与所述第一电位器的连接点相连，所述第二运算放大器的同相输入端与所述第二对称电阻与所述测温模块的连接点相连，所述第二电位器与所述第一电阻的一端相连，所述第一运算放大器的反相输入端与所述第二电位器与所述第一电阻的连接点相连，所述第二电位器的另一端与所述第二电阻的一端相连，所述第二运算放大器的反相输入端与所述第二电位器与所述第二电阻的连接点相连，所述第一运算放大器和所述第二运算放大器的输出端分别与所述第三电阻和所述第四电阻的一端连接，所述第一电阻的另一端连在所述第一运算放大器与所述第三电阻的连接点上，所述第二电阻的另一端连在所述第二运算放大器与所述第四电阻的连接点上，所述第三电阻的另一端与所述第五电阻的一端相连，所述第三运算放大器的反相输入端与所述第三电阻与所述第五电阻的连接点相连，所述第四电阻的另一端与所述第六电阻的一端相连，所述第三运算放大器的同相输入端与所述第四电阻与所述第六电阻的连接点相连，所述第五电阻的另一端与所述第三运算放大器的输出端连接，所述第六电阻的另一端接地。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述调节模块包括：

用于根据比较结果，输出调节所述半导体激光器的工作温度的指示信号的比例-积分-微分调节器、用于根据所述比例-积分-微分调节器的指示信号，输出驱动电流的驱动电路、以及用于在所述驱动电路输出的驱动电流的驱动下对所述半导体激光器进行降温或加热的半导体致冷器，所述驱动电路分别与所述比例-积分-微分调节器和所述半导体致冷器连接。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述装置还包括设在所述半导体致冷器表面的散热片。

6.根据权利要求1-5任一项所述的装置，其特征在于，所述测温模块为热敏电阻。