[实用新型]一种采样误差自动补偿的信号并行交替采样系统有效
申请号: | 201320066816.5 | 申请日: | 2013-02-05 |
公开(公告)号: | CN203071911U | 公开(公告)日: | 2013-07-17 |
发明(设计)人: | 马仑;王元庆;谢娟;茹锋 | 申请(专利权)人: | 长安大学 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 西安创知专利事务所 61213 | 代理人: | 谭文琰 |
地址: | 710064 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 采样 误差 自动 补偿 信号 并行 交替 采样系统 | ||
1.一种采样误差自动补偿的信号并行交替采样系统,其特征在于:包括多个A/D转换芯片(1)、用于输入多个所述A/D转换芯片(1)的采样通道失配误差的参数输入单元(2)、多个分别对多个所述A/D转换芯片(1)的采样时间进行控制的延时控制电路(3)、多个分别对多个所述A/D转换芯片(1)所采样信号进行傅里叶变换处理的数据处理单元(4)、将多个所述数据处理单元(4)处理后的采样信号以数据阵列形式输出的多路复用器(5)、根据参数输入单元(2)所输入的采样通道失配误差对多路复用器(5)所输出信号进行误差补偿并以数据阵列形式输出误差补偿后的采样信号的数据处理器一(6)、对数据处理器一(6)所输出的误差补偿后的采样信号进行分析并形成自适应波束且将所形成自适应波束中存在的所有混叠的频谱分量取出的自适应波束形成器(7)和按频率大小对所取出的所有混叠的频谱分量进行排列以获得重构后采样信号的数据处理器二(8),多个所述延时控制电路(3)分别与多个所述A/D转换芯片(1)相接,多个所述A/D转换芯片(1)分别与多个所述数据处理单元(4)相接,多个所述数据处理单元(4)均与多路复用器(5)相接,所述多路复用器(5)与数据处理器一(6)相接,所述数据处理器一(6)与自适应波束形成器(7)相接,且自适应波束形成器(7)与数据处理器二(8)相接,所述参数输入单元(2)与数据处理器一(6)相接。
2.按照权利要求1所述的一种采样误差自动补偿的信号并行交替采样系统,其特征在于:还包括与数据处理器一(6)相接的数据存储模块一(9)。
3.按照权利要求1或2所述的一种采样误差自动补偿的信号并行交替采样系统,其特征在于:还包括与数据处理器二(8)相接的数据存储模块二(10)和计时电路(11),多个所述延时控制电路(3)均由数据处理器二(8)进行控制,且多个所述延时控制电路(3)均与数据处理器二(8)相接。
4.按照权利要求1或2所述的一种采样误差自动补偿的信号并行交替采样系统,其特征在于:所述数据处理器一(6)和数据处理器二(8)均为ARM微处理器。
5.按照权利要求1或2所述的一种采样误差自动补偿的信号并行交替采样系统,其特征在于:还包括分别与数据处理器二(8)相接的参数设置单元(12)和显示单元(13)。
6.按照权利要求1或2所述的一种采样误差自动补偿的信号并行交替采样系统,其特征在于:所述A/D转换芯片(1)为芯片AD7723。
7.按照权利要求1或2所述的一种采样误差自动补偿的信号并行交替采样系统,其特征在于:所述A/D转换芯片(1)为芯片AD9240。
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