[实用新型]一种用于化学机械抛光的抛光头有效
申请号: | 201320071267.0 | 申请日: | 2013-02-07 |
公开(公告)号: | CN203092329U | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 熊世伟 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | B24B41/047 | 分类号: | B24B41/047 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 100176 北京市大兴*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 化学 机械抛光 抛光 | ||
一种用于化学机械抛光的抛光头,其特征在于,所述抛光头至少包括:多腔室隔膜、缓冲区和保持环;
所述缓冲区环绕于所述多腔室隔膜周围,所述多腔室隔膜底部形成有用于容纳晶圆的凹槽;
所述保持环环绕于所述缓冲区,通过对缓冲区施加横向压力将晶圆限定在凹槽内,所述保持环与抛光垫直接接触,抛光垫在接触处有形变;
所述缓冲区将多腔室隔膜与保持环隔开,以便晶圆与抛光垫形变处之间具有一预设距离。
根据权利要求1所述的用于化学机械抛光的抛光头,其特征在于:所述缓冲区与所述多腔室隔膜相连,且与多腔室隔膜为一体成型。
根据权利要求1所述的用于化学机械抛光的抛光头,其特征在于:所述凹槽的形貌与晶圆边缘的形貌一致。
根据权利要求3所述的用于化学机械抛光的抛光头,其特征在于:所述凹槽的深度小于晶圆的厚度,所述凹槽的深度为500~750μm。
根据权利要求1所述的用于化学机械抛光的抛光头,其特征在于:所述缓冲区上设有嵌入保持环的卡板。
根据权利要求1所述的用于化学机械抛光的抛光头,其特征在于:所述缓冲区顶部还设有用于固定缓冲区的连接件,所述连接件中设有用于连接的螺纹孔。
根据权利要求1所述的用于化学机械抛光的抛光头,其特征在于:所述缓冲区与多腔室隔膜为相同的材料,为聚酯类高分子材料。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(北京)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320071267.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:非通孔零件加工夹具
- 下一篇:一种新型顺序珩磨半自动上下料结构