[实用新型]模拟集成电路测试仪有效
申请号: | 201320079785.7 | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN203149087U | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 陈孟元;曹龙;李腾飞 | 申请(专利权)人: | 安徽工程大学 |
主分类号: | G01R31/3163 | 分类号: | G01R31/3163 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 241008 安徽省芜湖市高新区*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 模拟 集成电路 测试仪 | ||
1.一种模拟集成电路测试仪,其特征在于,包括:
芯片测试电路,包括0809、0832、2114、3524、LM324和LM347芯片测试电路,适于接收输入,并且产生输出;
模数转换器,与0832、3524、LM324和LM347芯片测试电路耦接,用于对其输出进行模数转换;和
单片机,用于接收来自0809和2114芯片测试电路以及模数转换器的输出,将其与预设的正确值进行比较,如果结果一致或者在误差范围内,则确定芯片功能正常,否则确定芯片出错。
2.根据权利要求1所述的模拟集成电路测试仪,其特征在于,还包括:
与单片机耦接的液晶显示电路,用于显示单片机的检测结果;
与单片机耦接的按键电路,用于选择所要测试的芯片;和
与单片机耦接的指示灯电路,用于指示当前所需要测试的芯片类型。
3.根据权利要求2所述的模拟集成电路测试仪,其特征在于,
所述液晶显示电路连接于单片机的P0输出端;
按键电路包括选择芯片按钮、确认按钮和复位按钮,分别接于单片机P1.0、P1.1和P1.2口,用于选择测试芯片、确认测试芯片和复位测试电路;以及
指示灯电路包括6个发光二极管,分别接于单片机P2.0~P2.5口,当选中某个测试芯片时,该芯片对应的指示灯亮起。
4.根据权利要求1所述的模拟集成电路测试仪,其特征在于,所述的单片机采用Atmel公司的AT89C55单片机。
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