[实用新型]一种测量射线剂量的射线测量仪

说明书

本实用新型涉及一种测量射线剂量的射线测量仪，尤其适用于工业x射线的检测中制作曝光曲线和控制射线累积剂量。

目前，检测工业x射线曝光曲线大多采用射线胶片曝光，测定胶片黑度来制作，这样做一方面要使用大量胶片，另一方面为了得到即时结果，避免黑度超标，需要多次冲洗了解实时结果，费时费力费财。因此设计一种薄片状能测量射线累积剂量的射线剂量计用于射线检测曝光曲线的制作或者用于曝光时射线剂量的检测。

本实用新型针对以上问题而提供一种薄片状的、准确的测量射线剂量的射线测量仪。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种测量射线剂量的射线测量仪，其特征在于它包括光电传感器、第一放大电路、积分电路、第二放大电路、A/D转换器和单片机控制及显示电路；所述第一放大电路由第一差分放大电路、第一校准电压电路和第一反相比例放大电路组成；所述第二放大电路由第二差分放大电路、第二校准电压电路和第二反相比例放大电路组成；

所述光电传感器的输出端分别接第一差分放大电路和积分电路的输入端；所述第一差分放大电路和第一校准电压电路的输出端均接第一反相比例放大电路的输入端；所述积分电路的输出端接第二差分放大电路的输入端；所述第二差分放大电路和第二校准电压电路的输出端均接第二反相比例放大电路的输入端；所述第一反相比例放大电路和第二反相比例放大电路的输出端分别接A/D转换器的相应输入端；所述A/D转换器的输出端接单片机控制及显示电路的输入端。 

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型降低了制作射线曝光曲线的人力物力财力、大大提高了工作效率，并且也可以读取射线剂量以确定曝光量。

本实用新型降低了制作射线曝光曲线的人力物力财力、大大提高了工作效率，并且也可以读取射线剂量以确定曝光量。

图1为本实用新型的电路原理框图；

图2为本实用新型的电路原理图（除A/D转换器、单片机控制及显示电路外的电路图）；

图3为A/D转换器、单片机控制及显示电路的电路图。

由图1‑3所示的实施例可知，它包括光电传感器1、第一放大电路3、积分电路2、第二放大电路4、A/D转换器6和单片机控制及显示电路8；所述第一放大电路3由第一差分放大电路3‑1、第一校准电压电路3‑2和第一反相比例放大电路3‑3组成；所述第二放大电路4由第二差分放大电路4‑1、第二校准电压电路4‑2和第二反相比例放大电路4‑3组成；

所述光电传感器1的输出端分别接第一差分放大电路3‑1和积分电路2的输入端；所述第一差分放大电路3‑1和第一校准电压电路3‑2的输出端均接第一反相比例放大电路3‑3的输入端；所述积分电路2的输出端接第二差分放大电路4‑1的输入端；所述第二差分放大电路4‑1和第二校准电压电路4‑2的输出端均接第二反相比例放大电路4‑3的输入端；所述第一反相比例放大电路3‑3和第二反相比例放大电路4‑3的输出端分别接A/D转换器6的相应输入端；所述A/D转换器6的输出端接单片机控制及显示电路8的输入端。 

它还包括第一报警电路5和第二报警电路7；所述第一报警电路5的输入端接第一反相比例放大电路3‑3的输出端；所述第二报警电路7的输入端接第二反相比例放大电路4‑3的输出端。

所述光电传感器1由硅光电二极管D1组成，其型号为S1087。

所述第一放大电路3的第一差分放大电路3‑1由放大器U1A、滑动变阻器VR1和电阻R1‑R5组成；所述电阻R1与硅光电二极管D1并联；所述放大器U1A的反相输入端经电阻R2接硅光电二极管D1的阴极，所述放大器U1A的同相输入端经电阻R3接硅光电二极管D1的阳极；所述电阻R5接在放大器U1A的同相输入端与地之间；所述电阻R4与滑动变阻器VR1串联后接在放大器U1A的输出端与反相输入端之间；

所述第一放大电路3的第一差分放大电路3‑1由放大器U1A、滑动变阻器VR1和电阻R1‑R5组成；所述电阻R1与硅光电二极管D1并联；所述放大器U1A的反相输入端经电阻R2接硅光电二极管D1的阴极，所述放大器U1A的同相输入端经电阻R3接硅光电二极管D1的阳极；所述电阻R5接在放大器U1A的同相输入端与地之间；所述电阻R4与滑动变阻器VR1串联后接在放大器U1A的输出端与反相输入端之间；

所述第一校准电压电路3‑2由稳压管D2、滑动变阻器VR2和电阻R9‑R10组成；所述稳压管D2与电阻R9串联后接在+12V与地之间；所述滑动变阻器VR2与稳压管D2并联；