[实用新型]一种球面及平面光学元件的线接触磨抛装置有效
申请号: | 201320123105.7 | 申请日: | 2013-03-19 |
公开(公告)号: | CN203171383U | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 陈耀龙;张川;陈晓燕 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学苏州研究院;北京龙奥特科技有限责任公司 |
主分类号: | B24B13/00 | 分类号: | B24B13/00 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 范晴 |
地址: | 215123 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 球面 平面 光学 元件 接触 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种球面及平面光学元件的线接触磨抛装置。
背景技术
光学元件的应用遍布在人们的生活中各个角落,大到天文望远镜,小到微型摄像头均可见到光学元件的身影。球面及平面光学元件是应用得最为广泛的光学元件,具有加工成本低、易于加工、加工成品率高等特点。
传统的球面、平面光学元件的抛光加工工艺多采用准球心法进行高速抛光,其加工设备造价低廉,且操作简单。但是这种设备对于磨抛盘与工件之间接触压力的控制较为模糊,浮动范围大,因此不容易实现确定量加工。而且,在传统的抛光方法中,一种曲率半径、口径的工件就需要一个磨抛盘基体,同口径不同曲率半径或者同曲率半径不同口径的工件都需要不同的磨抛盘,这就造成了加工成本的提升。
发明内容
本实用新型目的是:提供一种提供一种适用于球面及平面光学元件数控磨抛加工的磨抛装置,在中国专利(ZL 200810103309.8)中提到的数控磨床上,与专有的工艺软件配合使用,能够达到提高加工精度及加工效率、降低生产成本的目的。
本实用新型的技术方案是:一种球面及平面光学元件的线接触磨抛装置,其特征在于:它包括工具柄和磨抛盘基体,所述工具柄用于连接磨抛盘基体并可安装在数控加工设备的工具轴上,或者将筒形磨抛盘基体与工具柄合为一个整体,作为一个独立的抛光装置,所述磨抛盘基体上粘贴有抛光膜,所述磨抛盘基体可以是仿形磨抛盘基体或筒形磨抛盘基体。
优选的,所述工具柄底部有突出的磨抛盘连接杆,用于跟所述磨抛盘基体顶部凹陷的磨抛盘定位接口进行配合,将工具柄和磨抛盘基体连接固定后,所述磨抛盘连接杆被压入磨抛盘定位接口中,两者之间不出现空隙。从而保证所述筒形磨抛盘基体、工具柄的同轴度。
优选的,所述工具柄和磨抛盘基体上都设有螺纹接口,两者通过螺钉连接固定。所述螺钉优选为内六角螺钉。既保证两者间的连接可靠性,又方便安装维护。
优选的,所述仿形磨抛盘基体的外形为一回转体,其母线为一圆弧,曲率半径为r1;在仿形磨抛盘基体的一端设有一个磨抛盘定位接口,用于将所述仿形磨抛盘基体安装在工具柄上,使用之前将抛光膜贴附于仿形磨抛盘基体的回转面上,精确修整后的抛光膜的母线为一圆弧,曲率半径为r2;选用的抛光膜厚度为h,满足r2=r1+h。
优选的,所述筒形磨抛盘基体的外形为圆筒形,其一端为圆弧状,圆弧曲率半径为r3;另一端设有一个磨抛盘定位接口,用于将所述筒形磨抛盘基体安装在工具柄上,使用之前将抛光膜贴附在筒形磨抛盘基体下方圆弧端,精确修整后的抛光膜的截面曲线为一精确的圆弧,圆弧曲率半径为r4;选用的抛光膜厚度为h,满足r4=r3+h。
本实用新型的优点是:
1. 本实用新型装置中的抛光膜表面的曲率半径可以实现在位精确修整。
本实用新型中独立的工具柄具有通用性,从而降低了装置的加工成本。
传统的球面磨抛工艺采用准球心法抛光,磨抛盘与工件是面接触方式,采用仿形法进行抛光加工,本实用新型的磨抛盘与工件为线接触方式,即在整个加工过程中,磨抛盘与工件表面的接触轨迹为一条闭合的或非闭合的曲线,由于工件的旋转,从而得到所需表面。
本实用新型的磨抛盘,特别是筒形磨抛盘具有通用性,依靠对抛光膜形状的修整,使同一外形尺寸的磨抛盘可适用于多种曲率半径的工件的磨抛加工。
附图说明
下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述:
图 1 是本实用新型磨抛装置的第一实施例的结构图;
图 2 是图1 中工具柄的结构图;
图 3 是图1 中仿形磨抛盘基体的结构图;
图 4 是对第一实施例进行抛光膜修整的示意图;
图 5 是采用第一实施例对凸面元件进行外抛加工的示意图;
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