[实用新型]平板受取机台及对位精度检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，特别涉及一种通过承托板及行走槽道实现显示基板准确快速放置的平板受取机台及包括该平板受取机台的对位精度检测设备。

背景技术

目前，在显示技术领域中，对于传统的具有双层基板的平板类显示基板通常是通过精确对盒工艺制造的，例如TFT-LCD液晶显示基板或与TFT-LCD液晶显示基板配合使用以实现3D效果的液晶盒，都需要对两部分基板的对位精度进行严格监控。一般情况下，完成真空对盒后的显示基板需要进行对位精度的检测，以便能及时反馈上下两基板的对位标记位置精度，减少因工艺精度低产生的品质问题；参见图1（透过显示基板的俯视图）、图2（图中箭头指向为机械手臂升降的方向）所示，通常对于显示基板5对位检测所使用的平板受取机台需要支撑杆1升降辅助进行显示基板的受取；利用机械手臂2将显示基板放置在实现升起的支撑杆上，放置后，支撑杆下降，使显示基板水平稳定的放置在机架3的承托板4上；待检测完毕，支撑杆上升将显示基板顶起，利用机械手臂将伴随支撑杆升起的显示基板取走，完成对位检测设备的一个完整动作。从设备运行角度讲，这种支撑杆设计的引入，一方面增加了组成平板受取机台上承托板的数量，急剧增加了机台表面的不平整度。这种机台表面的承托板由于其数量的增加，导致设备检测光源发出的光线通过其边缘的几率增加，会对检测光产生漫反射、全反射、折射等影响，导致检测光的照射不规律，影响其光路，进而增加了由于折射、散射等产生的光量损失；因此会增加设备运行中对对位标记识别困难的风险。设备识别对位标记的光源来自机台下方的透射光源和机台上方的反射光源，两种光源的引入能够灵活对应金属和树脂成分的对位标记。当光线的传递路径受到干扰时，如光线恰好落在机台边缘时，发生散射、折射等的光量增加，使得进入电荷藕合器件图像传感器内的光量减少，最终导致设备读取对位标记失败。另一方面，支撑杆辅助受取显示基板需要对设备引入马达传动系统，用以完成支撑杆的升降动作，增加了设备的设计复杂度和运营成本；另外支撑杆的存在也增加了检测光源传播路线受阻碍的风险。

因此，需要提供一种平板受取机台及对位精度检测设备以解决上述问题。

发明内容

本实用新型所解决的技术问题是提供一种平板受取机台及对位精度检测设备；该平板受取机台通过承托板及行走槽道以实现显示基板准确快速放置并实现设备简化的目的。

本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的：一种平板受取机台，包括机架，在该机架上设有至少两块承托板，所述至少两块承托板的用于承接平板的承接面处于同一平面，在相邻的两所述承托板之间设有用于机械手臂行进的行走槽道。

进一步地，所述承托板的承接面均呈水平设置。

进一步地，所述各承托板拼接成一矩形或正方形。

进一步地，所述各承托板的形状均相同，其由玻璃材料、石英材料或透明高分子材料其中之一制成。

一种对位精度检测设备，包括如上述中任一项所述的平板受取机台；所述对位精度检测设备包括机械手臂，所述机械手臂的位置与所述行走槽道的位置相对应，且所述机械手臂的高度与所述行走槽道的高度相适应。

还包括图案采集单元，所述图案采集单元用于获取所述平板受取机台上显示基板的图案信息。

还包括图像显示单元，所述图像显示单元与所述图案采集单元连接以显示所述图案采集单元所采集到的图案信息。

所述图案采集单元包括电荷藕合器件图像传感器。

还包括检测光照射装置，用于提供检测显示基板对位精度的透射光和反射光。

还包括系统控制单元，与所述检测光照射装置和所述图案采集单元连接，所述系统控制单元用于控制所述检测光照射装置发出所述透射光和反射光，以及控制所述图案采集单元获取所述平板受取机台上的图案信息。

本实用新型与现有技术相比具有以下的优点：