[实用新型]可精确测量的眉笔有效

专利信息
申请号: 201320144630.7 申请日: 2013-03-14
公开(公告)号: CN203137413U 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 张光弟 申请(专利权)人: 张光弟
主分类号: A45D40/20 分类号: A45D40/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 325000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 精确 测量 眉笔
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种可精确测量的眉笔。

背景技术

一般的眉笔在使用中需要用目测来估计眉毛的长短,从而决定还如何画眉毛,可是眉笔没有测量功能,目测往往会失误,使用起来不方便。

发明内容

本实用新型的目的就是要解决现有技术中,一般的眉笔在使用中需要用目测来估计眉毛的长短,从而决定还如何画眉毛,可是眉笔没有测量功能,目测往往会失误,使用起来不方便的问题,提供一种可精确测量的眉笔。

可精确测量的眉笔,由眉笔(1)、笔盖(2)、刻度线(3)和水平仪(4)组成,其特征在于:笔盖(2)嵌套在眉笔(1)的顶部,刻度线(3)固定镶嵌在笔盖(2)的外壁,水平仪(4)固定嵌在笔盖(2)的外壁。

本实用新型的有益效果是:可精确测量的眉笔为爱美人士在化妆时在精确度上提供方便。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步详细说明。

图为本实用新型的结构示意图。

图中:1、眉笔,2、笔盖,3、刻度线,4、水平仪。

具体实施方式

如图,可精确测量的眉笔,由眉笔(1)、笔盖(2)、刻度线(3)和水平仪(4)组成,其特征在于:笔盖(2)嵌套在眉笔(1)的顶部,刻度线(3)固定镶嵌在笔盖(2)的外壁,水平仪(4)固定嵌在笔盖(2)的外壁。

可精确测量的眉笔为爱美人士在化妆时在精确度上提供方便。

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