[实用新型]一种不拆头式变压器介质谱测试结构有效
申请号: | 201320145017.7 | 申请日: | 2013-03-27 |
公开(公告)号: | CN203164353U | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
发明(设计)人: | 李红雷;李贤宁;刘家妤 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司 |
主分类号: | G01R31/06 | 分类号: | G01R31/06 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 林君如 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 头式 变压器 介质 测试 结构 | ||
1.一种不拆头式变压器介质谱测试结构,用于测试变压器中的高-中压绕组及低压绕组,所述的高-中压绕组及低压绕组连接构成一回路,其特征在于,该测试结构包括高压电极、低压电极、接地电极及测试部件,所述的高压电极经连接线路与低压绕组连接,所述的低压电极经连接线路与高-中压绕组连接,所述的测试部件连接在高-中压绕组及低压绕组连接构成的回路上。
2.根据权利要求1所述的一种不拆头式变压器介质谱测试结构,其特征在于,所述的高-中压绕组及低压绕组连接构成的回路一端接地。
3.根据权利要求1所述的一种不拆头式变压器介质谱测试结构,其特征在于,所述的高-中压绕组及低压绕组连接有电感线圈,所述的电感线圈之间串联有电容。
4.根据权利要求1所述的一种不拆头式变压器介质谱测试结构,其特征在于,所述的高-中压绕组与回路之间设置有电容。
5.根据权利要求1所述的一种不拆头式变压器介质谱测试结构,其特征在于,所述的低压绕组与回路之间设置有电容。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国家电网公司;上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司,未经国家电网公司;上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320145017.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于压力烹饪器具的开关检测电路
- 下一篇:一种多芯电缆检测仪