[实用新型]高压导体接触不良的双螺母串接试验装置有效
申请号: | 201320151761.8 | 申请日: | 2013-03-29 |
公开(公告)号: | CN203178421U | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 冯蓓艳;殷立军;张华;都泓蔚;常鹏;华月申;于盛楠;聂鹏晨 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;上海市电力公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 张妍 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高压 导体 接触 不良 螺母 试验装置 | ||
1.高压导体接触不良的双螺母串接试验装置,包含高压导体(1),其特征在于,还包含第一螺母(2)及第二螺母(3);
所述的第一螺母(2)设置在高压导体(1)的下端;
所述的第二螺母(3)设置在第一螺母(2)的下端。
2.如权利要求1所述的高压导体接触不良的双螺母串接试验装置,其特征在于,所述的高压导体(1)为中空的圆柱形结构,腔室内充SF6气体到0.2MPa。
3.如权利要求1所述的高压导体接触不良的双螺母串接试验装置,其特征在于,所述的高压导体(1)下端设有外螺纹。
4.如权利要求1所述的高压导体接触不良的双螺母串接试验装置,其特征在于,所述的第一螺母(2)及第二螺母(3)型号为M10。
5.如权利要求3所述的高压导体接触不良的双螺母串接试验装置,其特征在于,所述的第一螺母(2)和第二螺母(3)的外螺纹与高压导体(1)下端的外螺纹相配合。
6.如权利要求1所述的高压导体接触不良的双螺母串接试验装置,其特征在于,所述的第一螺母(2)与第二螺母(3)之间的间隙为0.8mm。
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