[实用新型]多探头OLED光学参数测试系统有效

专利信息
申请号: 201320165229.1 申请日: 2013-04-03
公开(公告)号: CN203241216U 公开(公告)日: 2013-10-16
发明(设计)人: 张光浩 申请(专利权)人: 四川虹视显示技术有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人: 周永宏
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 探头 oled 光学 参数 测试 系统
【权利要求书】:

1.多探头OLED光学参数测试系统,包括光学参数测试单元和OLED驱动单元,其特征在于:所述光学参数测试单元包括色彩分析仪、至少两个测试探头(2)以及多探头扩展板(1),所述多探头扩展板(1)用于连接色彩分析仪和测试探头(2),所述OLED驱动单元用于驱动OLED被测件,所述测试探头(2)与色彩分析仪连接,测试探头(2)用于采集OLED被测件的光学参数信息并且将光学参数信息传输到色彩分析仪。 

2.如权利要求1所述的多探头OLED光学参数测试系统,其特征在于:还包括测试控制单元,所述测试控制单元与色彩分析仪连接,测试控制单元通过向色彩分析仪传输控制信号到测试探头(2)用于控制测试探头(2)对OLED被测件的光学参数采集。 

3.如权利要求1所述的多探头OLED光学参数测试系统,其特征在于:还包括数据处理单元,所述数据处理单元与色彩分析仪连接,用于存储色彩分析仪中的OLED被测件的光学参数信息。 

4.如权利要求1至3任一项权利要求所述的多探头OLED光学参数测试系统,其特征在于:所述OLED驱动单元包括可编程直流电源和测试卡,所述可编程直流电源和测试卡点亮OLED被测件,通过调节可编程直流电源的电流大小调整OLED被测件的亮度大小。 

5.如权利要求1至3任一项权利要求所述的多探头OLED光学参数测试系统,其特征在于:所述的光学参数测试单元还包括探头固定装置,所述探头固定装置用于固定测试探头(2)。 

6.如权利要求5所述的多探头OLED光学参数测试系统,其特征在于:所述的探头固定装置为三脚架。 

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