[实用新型]一种检测倒角根部到该孔平面距离的检具有效

专利信息
申请号: 201320179211.7 申请日: 2013-04-11
公开(公告)号: CN203310351U 公开(公告)日: 2013-11-27
发明(设计)人: 张祥兵;李靖宇;邓爱芳;李顺;邱刘琴;彭宝金 申请(专利权)人: 鹰普(中国)有限公司
主分类号: G01B5/14 分类号: G01B5/14
代理公司: 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 代理人: 杜丹盛
地址: 214101 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 倒角 根部 平面 距离
【说明书】:

技术领域

    本实用新型涉及检测内部距离结构的检具的技术领域,具体为一种检测倒角根部到该孔平面距离的检具。

背景技术

现有的内部距离尺寸检测,大多是使用游标卡尺、高度尺等来检测,所以检验范围也受到很大的限制,其在检测在零件内部的孔的倒角根部到平面的距离时相当复杂,检测效率过慢,达不到生产线检测要求的速率,且易产生误差、检测精度低。

发明内容

针对上述问题,本实用新型提供了一种检测倒角根部到该孔平面距离的检具,其可以检测在零件内部的孔的倒角根部到平面的距离,操作方便,检测效率高,且检测精度高。

一种检测倒角根部到该孔平面距离的检具,其技术方案是这样的:其包括底座、支撑柱,其特征在于:其还包括校表座、校表块、测量销、表座、百分表,所述支撑柱紧固于所述底座,所述校表座紧固于所述支撑柱的上端面,所述校表块支承于所述校表座的上端面,所述表座位于所述校表块的正上方,所述测量销的截止面为扩口圆台结构,所述表座的内孔内设置有所述百分表的测头,所述测量销的头部依次贯穿校表座、校表块的通孔后插装于所述表座的内孔,所述测量销的头部紧贴所述测头的下端面,所述扩口圆台结构顶住所述校表块的通孔的下端面。

其进一步特征在于:所述百分表的测头和所述表座内孔的外环面之间设置有柱套。

采用本实用新型的结构后,用测量销将表座在校表块上校零,将表座置于零件的相应位置,测量销从零件内部进入被测孔,扩口圆台结构与被测零件倒角根部贴合,观看百分表指针偏摆方向及相应数值,准确反应出测得尺寸与理论值的差值,其可以检测在零件内部的孔的倒角根部到平面的距离,操作方便,检测效率高,且检测精度高。

附图说明

图1为本实用新型的主视图结构示意图;

图2是本实用新型对零件检测的结构示意图;

图3是图2的A处局部放大结构示意图。

具体实施方式

见图1,其包括底座1、支撑柱2、校表座3、校表块4、测量销5、表座6、百分表7,支撑柱2紧固于底座1,校表座3紧固于支撑柱2的上端面,校表块4支承于校表座3的上端面,表座6位于校表块4的正上方,测量销5的截止面为扩口圆台结构8,表座6的内孔内设置有百分表7的测头9,测量销5的头部依次贯穿校表座3、校表块4的通孔后插装于表座6的内孔,测量销5的头部紧贴测头9的下端面,扩口圆台结构8顶住校表块4的通孔的下端面。百分表7的测头9和表座6内孔的外环面之间设置有柱套10。

其工作原理如下:图1中,测量销5的头部紧贴测头9的下端面,扩口圆台结构8顶住校表块4的通孔的下端面,百分表校零;见图2、图3,校零后,将表座6置于被测零件11相应位置并使表座6紧贴零件表面,将测量销5从被测零件11的孔内塞入表座6中,观察表针并读数,百分表7上一小格带表0.01mm。当指针像右偏转n格时,倒角相应比标准值偏小0.01×n,相反则为正值,通过百分表指针的偏转可准确读出零件倒角尺寸。

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