[实用新型]工频磁场探头校准测试仪有效

专利信息
申请号: 201320189807.5 申请日: 2013-04-16
公开(公告)号: CN203275629U 公开(公告)日: 2013-11-06
发明(设计)人: 宿奉祥 申请(专利权)人: 宿奉祥
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京市卓华知识产权代理有限公司 11299 代理人: 周瑞艳
地址: 102218 北京市昌平*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 磁场 探头 校准 测试仪
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种用于工频磁场测试仪(简称为工频磁场探头)校准和测试用的仪器,同样可用于工频电磁场测试仪的磁场检测部分的校准和测试。

背景技术

工频磁场、电磁场探头的检测精度通常会随着使用期限的延长逐渐下降,在某些检测要求精度较高的应用领域,希望探头总能保持在一个较高的精度水平,但如果频繁地送国家计量部门进行标定不仅增加使用成本,还容易在运输、携带过程中造成探头的意外损坏,因此对于经常使用探头的个人或组织,需要一种可用于校准或检测探头测量误差的装置,以方便地了解所用探头的检测精度变化情况。

实用新型内容

为了解决现有技术的上述问题,本实用新型提供了一种工频磁场探头校准测试仪,可用于校准和测试工频磁场探头、工频电磁场探头的磁场检测部分,用以掌握探头在多种被测试环境下的测量误差,并可据此进一步对探头进行校准。

本实用新型所采用的技术方案是:一种工频磁场探头校准测试仪,包括设有螺线管的有源电路和用于放置被测工频磁场探头的支架,所述支架位于所述螺线管管口的正上方。

所述工频磁场探头校准测试仪还可以设有金属的屏蔽箱,所述螺线管位于所述屏蔽箱内,所述屏蔽箱上与所述螺线管管口相对的位置处设有圆形通孔,所述支架位于所述屏蔽箱上。

所述支架为上下贯通结构。

所述支架的横截面可以为圆环形,所述支架扣设在所述屏蔽箱的通孔的边缘上。

所述支架的高度可调。

所述屏蔽箱上还可以设有透明绝缘的保护罩,所述保护罩与屏蔽箱的上面围成封闭的空间,所述支架位于所述封闭的空间内。

所述支架为绝缘材料制成。

对于上述任意一种所述工频磁场探头校准测试仪,所述螺线管的一端连接电源,另一端连接可调电子负载。

所述电源为频率可调电源。

所述螺线管前后的电路中各自设有电流监测装置。

本实用新型的有益效果是:

通过改变流过螺线管的电流大小可改变螺线管所产生磁场的强弱,通过改变支架的高低,可改变被试工频磁场探头在螺线管所产生磁场中的位置,二者相结合相当于模拟出了不同强弱的磁场,供测试和校准工频磁场探头或工频电磁场探头的磁场部分使用,可以方便探头的使用者掌握探头的磁场测量精度,减少测量误差,降低因频繁送国家计量部门进行标定引起的使用成本。

由于采用电子负载,其所消耗电能全部以热的形式释放出去,不形成反馈电参量,因此可形成稳定的磁场,使形成的模拟磁场更加精准。

附图说明

图1是本实用新型的一个实施例的结构示意图。

具体实施方式

本实用新型提供了一种工频磁场探头校准测试仪,如图1所示,包括设有螺线管1的有源电路和用于放置被测工频磁场探头的支架2,所述支架位于所述螺线管管口的正上方。使用时,给有源电路通电,调定螺线管线圈流过的电流,则螺线管产生一个确定的磁场,被测工频磁场探头检测到的磁场参数与其磁场传感器所在位置处螺线管产生的理想磁场的磁场参数相比较,可以得出所述工频磁场探头的检测误差。

所述工频磁场探头校准测试仪还设有金属的屏蔽箱3,所述螺线管位于所述屏蔽箱内,比避免环境中的磁场对螺线管产生磁场的影响,所述屏蔽箱上与所述螺线管管口相对的位置处设有圆形通孔3-1,用于向外泄漏螺线管产生的磁场,使工频磁场探头可以检测到螺线管的磁场,所述圆形通孔的直径优选不小于螺线管的管口直径。所述支架位于所述屏蔽箱上。

所述支架优选为上下贯通结构,以免影响工频磁场探头对螺线管所产生磁场的感知,进一步优选为旋转对称结构,本实施例中,所述支架的横截面为圆环形,所述支架扣设在所述屏蔽箱的通孔的边缘上,所述支架的中央轴线与所述螺线管的中央轴线重合。

进一步,所述支架的高度可调,其他条件相同的情况下,支架的高度调得越高,工频磁场探头所处位置处的磁场越弱,在电流不变的情况下,相当于调节了校准用理想磁场的强弱。所述支架的高度调节方式可以采用现有技术下任何方式,例如,所述支架可以由两个螺纹连接的件组合而成,通过相对旋进/旋出来调节二者联接后的高度,这种方式便于手工调节;所述支架还可以由支架本体和支架升降装置组成,支架主体可由小电机驱动在支架升降装置上上下直线往复移动,这种方式更适合自动控制。所述支架旁边可垂直设有刻度标尺或位置传感器,用于衡量支架的高度。

所述屏蔽箱上还可以设有透明绝缘的保护罩4,所述保护罩与屏蔽箱的上面围成封闭的空间,所述支架位于所述封闭的空间内,有源电路位于所述保护罩之外。该保护罩既不影响校准、测试中的观察,也减少了外界环境的干扰。

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