[实用新型]波片相位延迟光谱特性的测量装置

权利要求书

1.一种波片相位延迟光谱特性的测量装置，其特征是，包括一个宽带光源，其出射的多波长连续光依次通过准直器、起偏器、第一待测波片、第二待测波片、检偏器和分光器后，经多波长光电探测器接收，接收后将数据传输给数据采集卡，数据采集卡的数据传输给计算机，所述第一待测波片和第二待测波片安装在手动控制的精密转台上。

2.一种波片相位延迟光谱特性的测量装置，其特征是，一种波片相位延迟光谱特性的测量装置，包括一个宽带光源，其出射的多波长连续光依次通过准直器、起偏器、第一待测波片、第二待测波片、检偏器和分光器后，经多波长光电探测器接收；所述第一待测波片和第二待测波片均与同一电机连接，或与两个电机分别连接；所述多波长光电探测器接收的数据上传到数据采集卡中，数据采集卡将数据传输给计算机，计算机控制电机。

3.如权利要求1或2所述的一种波片相位延迟光谱特性的测量装置，其特征是，

所述的两个待测波片为延迟范围为0°～180°的零级波片，所述零级波片为由晶体材料或聚合物材料制作的真零级波片或复合零级波片。

4.如权利要求1或2所述的一种波片相位延迟光谱特性的测量装置，其特征是，

所述准直器采用由尾纤与自聚焦透镜精确定位而成的光纤准直器。

5.如权利要求1或2所述的一种波片相位延迟光谱特性的测量装置，其特征是，

所述起偏器和检偏器均采用二向色性起偏器或双折射起偏器中的一种。

6.如权利要求1或2所述的一种波片相位延迟光谱特性的测量装置，其特征是，

所述分光器采用分光棱镜或光栅色散型分光器。

7.如权利要求1或2所述的一种波片相位延迟光谱特性的测量装置，其特征是，

所述宽带光源为输出特性稳定的连续谱光源。

8.如权利要求1或2所述的一种波片相位延迟光谱特性的测量装置，其特征是，

所述多波长光电探测器为多波长光电二极管阵列、光电倍增管阵列或CCD线阵或面阵传感器。

9.如权利要求8所述的一种波片相位延迟光谱特性的测量装置，其特征是，所述多波长光电探测器优选为CCD线阵或面阵传感器。

10.如权利要求2所述的一种波片相位延迟光谱特性的测量装置，其特征是，

所述电机选用伺服电机、永磁式步进电机或反应式步进电机的电机及其相应的驱动器。