[实用新型]一种PLC芯片测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试系统，尤其涉及一种PLC芯片测试系统。

背景技术

光纤到户(FTTH)正伴随着光纤技术的成熟处于飞速发展中，在FTTH中均使用PON技术（俗称无源光网络），PON技术作为一种光纤接入技术，具有抗干扰性高、带宽大、接入距离长、方便维护和管理等特点，而PLC光分路器是PON技术中非常关键的部件。PLC光分路器使用一个基础性的核心部件PLC芯片，每个PLC芯片均需要经过测试后才能使用与销售。现有PLC芯片测试系统使用单模光纤与PLC芯片的输出端对准，单模光纤的纤芯直径较小，为9微米左右，PLC芯片的输出端光波导为7微米，单模光纤不容易与PLC芯片的输出端对准，且没有夹具台定位PLC芯片和单模光纤的位置，测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有PLC芯片测试系统使用单模光纤与PLC芯片的输出端对准，单模光纤的纤芯直径较小，不容易与PLC芯片的输出端对准，且没有夹具台定位PLC芯片和单模光纤的位置，测试效率较低的技术问题，提供了一种PLC芯片测试系统，其使用多模光纤阵列与PLC芯片的输出端对准，多模光纤阵列的纤芯直径较大，容易与PLC芯片的输出端对准，且使用夹具台定位PLC芯片、单模光纤阵列和多模光纤阵列的位置，提高了测试效率。

为了解决上述问题，本实用新型采用以下技术方案予以实现：

本实用新型的一种PLC芯片测试系统，包括光源、单模光纤阵列、夹具台、多模光纤阵列和光功率计，所述光源的输出端与单模光纤阵列的输入端相连，所述单模光纤阵列的输出端设置在夹具台的一侧，并与夹具台上的PLC芯片的输入端对准，所述多模光纤阵列的输入端设置在夹具台的另一侧，并与夹具台上的PLC芯片的输出端对准，所述多模光纤阵列的输出端与光功率计相连。

在本技术方案中，测试开始前，先启动光源，并使用光功率计单独检测光源的光功率，并将检测到的光功率作为基准功率。测试时，将1×N的PLC芯片放置在夹具台的相应位置，调节单模光纤阵列的输出端和多模光纤阵列的输入端在夹具台上的位置，使单模光纤阵列的输出端对准PLC芯片的输入端，使多模光纤阵列的输入端对准PLC芯片的输出端。此时，光源发出的光经过单模光纤阵列进入PLC芯片，PLC芯片将输入的光分成N份从N个输出端输出，每个PLC芯片输出端输出的光通过多模光纤阵列进入光功率计，光功率计检测多模光纤阵列输出的光功率并显示出来。工作人员根据光功率计测得的PLC芯片输出端输出的光功率和光源的光功率判断光的衰减情况，从而判断PLC芯片是否合格。

多模光纤阵列的纤芯直径为62.5微米，PLC芯片的输出端光波导为7微米，多模光纤阵列很容易与PLC芯片的输出端对准，基本不需要对多模光纤阵列进行微调对准，就能将光全部耦合进多模光纤阵列，提高了测试效率。同时，该测试系统通过夹具台定位PLC芯片、单模光纤阵列和多模光纤阵列的位置，便于同类PLC芯片的测试，提高了测试效率。

作为优选，所述光源为激光光源。

作为优选，所述光功率计为多通道光功率计。可同时测量PLC芯片的多路输出端输出的光功率。

作为优选，所述一种PLC芯片测试系统还包括计算机，所述光功率计的输出端与计算机相连。光功率计将测得的PLC芯片输出端输出的光功率和光源的光功率发送到计算机，计算机根据光的衰减度判断PLC芯片各个输出端输出的光是否满足要求，在显示器上显示PLC芯片各个输出端输出的光的合格情况。

作为优选，所述一种PLC芯片测试系统还包括声音报警器，所述声音报警器与计算机相连。当PLC芯片的某个输出端输出的光不满足要求时，计算机控制声音报警器发出报警，提醒测试人员注意。

本实用新型的有益效果是：使用多模光纤阵列与PLC芯片的输出端对准，多模光纤阵列的纤芯直径较大，容易与PLC芯片的输出端对准，且使用夹具台定位PLC芯片、单模光纤阵列和多模光纤阵列的位置，提高了测试效率。

附图说明

图1是本实用新型的一种结构连接框图。

图中：1、光源，2、单模光纤阵列，3、多模光纤阵列，4、光功率计，5、PLC芯片，6、计算机，7、声音报警器。

具体实施方式

下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。