[实用新型]一种能量色散X荧光分析仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种分析仪，尤其涉及一种探测器采用国际最先进的C2SERIES SUPER-SDD，可以使常规能量色散X荧光分析仪起始分析元素的11号元素的钠降低到6号元素的碳，且探测器具有USB、RS232串口、以太网通信接口三种方式的能量色散X荧光分析仪。 

背景技术

X荧光分析的历史比较长，从上个世纪60年代开始波长色散X荧光分析仪被用于快速物料成分分析，现已经广泛用于各个行业的样品分析；到了70年代末期，第一台能量色散X荧光分析仪被美国劳伦兹实验室研制成功，80年代能量色散型分析仪开始应用，中国也开始研制，到1989年中国第一台能量色散型X荧光分析仪研制成功，到2000年X荧光分析仪一直发展不快，主要原因是能量色散型X荧光分析仪的关键部件---探测器是采用了Si（Li）半导体探测器，它需要在液氮冷却状态下才能工作，日常维护比较麻烦，每周都要添加液氮才能工作。 

为此，随着探测器技术的发展，到2005年后，能量色散X荧光分析仪才进入了高速发展期。在钢铁工业中，生铁样品测量是一个重要的科目，生铁样品在打磨后表面有条纹，该样品表面的条纹对测量结果具有很大影响。目前，所使用的能量色散X荧光分析仪，它包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及测样装置；其中，激发光源装置和信号处理装置分别连接的计算机，该激发光源装置安装在靠近测样装置的位置，信号探测装置连接信 号处理装置，而测样装置是用于放置被测样品。现有的能量色散X荧光分析仪中所使用的测样装置为固定结构，不能够自行旋转，因此在进行金属样品测量时，由于生铁样品表面的条纹的影响使得测量结果产生较大的误差，如生铁样品在测量硫含量0.04%的样品时，不同条纹方向的测量结果从0.035-0.051%变化，进而影响了整个测量结果，致使测量结果不准确。 

另外，现有的X荧光分析仪，采用归一化的方式消除仪器的漂移，它使用一个标准样品，定时去测量一下，计算出仪器的漂移系数，再保存该漂移系数，在测量生产样品时，再利用该系数进行结果校正。采用这种方法操作比较复杂，测量时间长，从而也降低了样品测量结果的精确度。 

中国专利号200520040223.7所公开的X荧光测硫仪，它主要是用于水泥、煤炭、有色等领域中样品的硫或硫化物成分含量的快速测量，不能够快速测出样品中的其它各个元素的含量，因此X荧光分析仪还有待进一步改进。 

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型的主要目的在于提供一种探测器采用国际最先进的C2SERIES SUPER-SDD，可以使常规能量色散X荧光分析仪起始分析元素的11号元素的钠降低到6号元素的碳，且探测器具有USB、RS232串口、以太网通信接口三种方式的能量色散X荧光分析仪。 

本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：一种能量色散X荧光分析仪，所述分析仪包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及测样装置；所述信号探测装置包括探测器、放大器以及模数转换器；所述激发光源装置中设有低功率X射线发生器和仪器校正片，所述的仪器校正片与被测样品紧密贴近并处于低功率X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上；所述探测器为电制冷探测器；所述探测器采用可以使常规能量色散X荧 光分析仪起始分析元素的11号元素钠降低到6号元素碳的探测器，所述探测器具有USB、RS232串口、以太网通信接口三种方式。 

在本实用新型的具体实施例中：所述的测样装置采用的是可旋转的样品自旋装置。 

在本实用新型的具体实施例中：所述电制冷探测器最低分辨率达到127eV。 

在本实用新型的具体实施例中：所述激发光源装置还设有高压电源和数码控制器，该高压电源连接低功率X射线发生器和数码控制器，所述数码控制器连接计算机。 

在本实用新型的具体实施例中：所述X射线发生器的高压为50千伏。 

本实用新型的工作原理如下：X射线发生器发出X射线激发样品,使样品中各个元素的原子中的核外电子（特别是K层电子）受激发而放出，并且在原来位置产生一个空穴，此时外层电子（特别是L层电子）就会填充这个空穴位置，多余的能量就以特征X射线的形式放出,这些特征X射线进入探测器产生脉冲信号,经过前置放大器送入脉冲谱仪放大器,经脉冲谱仪放大器的放大与脉冲成形,送入模数转换器,模数转换器将模拟信号转换成数字量,送入计算机接口,软件通过控制接口电路来进行谱数据的采集与控制。