[实用新型]一种金相显微镜试样定位标尺

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种加装在金相显微镜上的试样定位标尺，属于金相显微镜部件技术领域。

背景技术

金相显微镜是冶金行业常规检验和研究工作中最常使用的仪器，主要用于检验分析金属材料的相和组织组成物、晶粒、非金属夹杂物以及金属表面或晶体缺陷的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等，在实验研究工作中起着不可缺少的重要作用。目前的金相显微镜可以在计算机上观察金相图像，从而对金相图谱进行分析、评级等，以及对图片进行输出、打印。但由于显微镜视场范围的限制，在需要对试样进行精确定位时，镜头内部的标尺无法满足要求。例如在进行显微硬度试验时，为了解试样的硬度值分布规律，需要在同一直线上定间距进行显微硬度试验，显微标尺无法保证硬度计能够定位在同一直线上定间距移动，影响实验数据的准确度，增大了实验误差；在观察钢材表面缺陷时，若缺陷较大就无法在一张图片中显示整个缺陷形貌及其附近的显微组织变化，需要连续采集多张后进行图片拼接，用显微标尺无法精确定位，连续采集时若不密集采集就不能保证图片的连续性，很难实现完整的缺陷图片拼接，图片数量的增加，会严重降低工作效率，容易使实验人员产生疲劳感。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种金相显微镜试样定位标尺，这种试样定位标尺在需要对试样进行精确定位时，能够方便地对金相试样进行精确定位，解决背景技术中存在的问题。

解决上述技术问题的技术方案是：

一种金相显微镜试样定位标尺，它包括主标尺和定位标尺，主标尺和定位标尺均有两个独立的标尺，两个独立的主标尺的一端垂直相交组成直角形，直角形的两个直角边与载物台的一个直角边相重合，固定在载物台上，两个独立的定位标尺分别位于两个主标尺的外侧，定位标尺与主标尺在同一水平面上，定位标尺由定位标尺安装支架固定在载物台外侧。

上述金相显微镜试样定位标尺，所述主标尺的最小单位为1mm，定位标尺的最小单位为0.5mm，定位标尺的零位与相邻的主标尺的零位相对应。

上述金相显微镜试样定位标尺，所述两个定位标尺分别由定位标尺安装支架固定连接在显微镜底座和镜体支架上。

上述金相显微镜试样定位标尺，它还有十字定位尺，十字定位尺位于载物台的中心。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型便于对金相试样进行精确定位，试样可以沿定位标尺在横向、纵向分别精确移动0.5mm的整数倍，提高了显微实验的精准度，有效地提高工作效率。本实用新型结构简单、使用方便。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是主标尺和定位标尺的俯视图；

图3是十字定位尺俯视图。

图中标记如下：目镜1、物镜2、主标尺3、定位标尺4、定位标尺安装支架5、镜体支架6、焦距调节旋钮7、显微镜底座8、载物台9、横向调节旋钮10、纵向调节旋钮11、十字定位尺12。

具体实施方式

本实用新型包括主标尺3、定位标尺4和十字标尺12，主标尺3和定位标尺4均有两个独立的标尺。

图中显示，两个独立的主标尺3的一端垂直相交组成直角形，直角形的两个直角边与载物台9的一个直角边相重合，固定在载物台9上。两个独立的定位标尺4分别位于两个主标尺3的外侧，定位标尺4与主标尺3在同一水平面上，定位标尺4由定位标尺安装支架5固定在载物台9外侧，固定连接在显微镜底座8和镜体支架6上。

图中显示，主标尺3的最小单位为1mm，定位标尺4的最小单位为0.5mm，定位标尺4的零位与相邻的主标尺3的零位相对应。试样可按定位标尺4以0.5mm为最小间距进行精确定位，一般的金相图片100X下视场宽度约为0.7mm，0.5mm的精确定位距离完全可以满足检验要求。

图中显示，十字定位尺12位于载物台的中心，如果试样较小、距主标尺较远或试样形状不规则时，可用独立的十字定位尺12来确定所需观察试样的初始位置。

本实用新型的使用方法如下：

参照附图1，根据观察试样的实验要求，选择适当的放大倍数。调节载物台9中心与物镜2中心对齐，将试样放在载物台9中心，调节焦距调节旋钮7，调整载物台高度，直至影象最清晰为止。用十字定位尺12对试样进行初始定位，注意使试样边缘分别与主标尺3的横、纵向整刻度线对齐。分别调节横向调节旋钮10、纵向调节旋钮11，将显微镜视场调整到将要采集图片的位置。分别调整两个定位标尺4，将两个定位标尺4的刻度线分别与主标尺3横、纵向的刻度线对齐。调节横向调节旋钮10可左右移动载物台，调节纵向调节旋钮11可前后移动载物台9，调节时观察横、纵向主标尺3与定位标尺4的刻度线位移，到达定点位置停止调节旋钮。