[实用新型]一种聚合物膜材透热性测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种聚合物膜材的透热性测试系统，属于膜材料检测技术领域。

背景技术

在竞争日益激烈的光伏系能源行业中，我们对光伏太阳能电池组件（以下简称组件）的各个参数都要进行改善。对于在强烈阳光下的组件，我们不仅要关注组件的发电量、转换率等参数，而且要注意阳光下的组件温度。因为组件的温度过高不仅会影响组件的发电量、CTM，而且还会影响组建的寿命。为了保证组件的温度正常，我们需要使制造组件所采用的玻璃、EVA、背板都具有良好的透热性，以快速散发热量。所以我们需要对聚合物进行透热性测试，但是，目前还未有相应的透热性测试装置进行组件质量监控。

实用新型内容

本实用新型针对上述问题的不足，提出一种聚合物膜材透热性测试系统，它不仅能够对聚合物膜材进行透热性测试，而且其价格低廉，同时使用方便。

本实用新型为解决上述技术问题提出的技术方案是：一种聚合物膜材透热性测试系统，包括温度控制加热模块、温度测量模块以及信息中央处理模块；所述温度控制加热模块包括温控加热器，温度测量模块包括一个以上的K型温度传感器，信息中央处理模块包括Agilent34970A数据采集器以及带有组态软件的上位机；所述K型温度传感器与温控加热器相对设置，所述K型温度传感器通过电信号传输线与Agilent34970A数据采集器进行信号连接，所述Agilent34970A数据采集器通过RS232通信方式与上位机进行通信；上位机对Agilent34970A数据采集器反馈的K型温度传感器所测量到的温控加热器的温度信号进行数据处理。

优选的：K型温度传感器的个数为9个，且各K型温度传感器之间呈3*3矩阵分布。

优选的：所述带有组态软件的上位机为带有Delphi软件的上位机。

优选的：所述上位机为PC计算机。

优选的：所述温控加热器的温度范围在180℃以内；所述Agilent34970A数据采集器的插盒为22路通道的插盒。

本实用新型的一种聚合物膜材透热性测试系统，相比现有技术，具有以下有益效果：1.由于设置有一个以上的K型温度传感器、温控加热器、Agilent34970A数据采集器以及带有组态软件的上位机，所述K型温度传感器与温控加热器相对设置，所述K型温度传感器通过电信号与Agilent34970A数据采集器进行通信，所述Agilent34970A数据采集器通过RS232通信方式与上位机进行通信，使用时将聚合物膜材的正面放在温控加热器上，而在聚合物膜材的背面放置一个以上的K型温度传感器，通过传感器将热度信号转换成电信号，传到Agilent34970A数据采集器上，通过数据采集器的对电信号的处理后，再将信息传送到上位机组态软件，最终以可视化的界面将分析出来的数据分布图展现给造作人员，因此本实用新型不仅能够对聚合物进行透热性测试，而且使用方便，由于使用K型温度传感器，因此价格低廉。

2. 由于K型温度传感器的分布为3*3矩阵分布，因此能够全面的掌握在加热情况下的聚合物膜材的温度分布情况。

附图说明

图1是本发明实施例的聚合物膜材透热性测试系统的结构示意图；

图2是图1中K型热电偶分布图；

图3是聚合物膜材透热性测试系统的流程图；

其中：1为温控加热器，2为K型温度传感器，3为聚合物膜材，4为Agilent34970A数据采集器，5为上位机PC。

具体实施方式

附图非限制性地公开了本发明一个优选实施例的结构示意图，以下将结合附图详细地说明本发明的技术方案。

实施例

本实施例的一种聚合物膜材透热性测试系统如图1、2所示，包括一个以上的K型温度传感器、温控加热器、Agilent34970A数据采集器以及带有组态软件的上位机，所述K型温度传感器与温控加热器相对设置，所述K型温度传感器通过电信号与Agilent34970A数据采集器进行通信，所述Agilent34970A数据采集器通过RS232通信方式与上位机进行通信。

所述K型温度传感器的分布为3*3矩阵分布。

所述组态软件为Delphi上位机软件。

所述上位机为PC计算机。

所述温控加热器的温度范围在180℃以内；所述Agilent34970A数据采集器的插盒为22路通道的插盒。