[实用新型]一种OLED封装母板老化测试用样条

说明书

技术领域

本实用新型属于显示器件技术领域，具体涉及一种OLED封装母板老化测试用样条。

背景技术

OLED封装母板在生产过程中进行老化测试时，测试工装的探针需要能够与共通电极接触，因此必须在OLED的封装盖板上进行预开孔，提高了封装盖板的采购成本。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术存在的上述问题，提供一种无需在OLED封装盖板上设置预开孔，降低产品制作成本且能提高工作效率的OLED封装母板老化测试用样条。

为解决上述技术问题，本实用新型采用以下技术方案：

一种OLED封装母板老化测试用样条，包括一组有机发光二极管、一组连接有机发光二极管阳极和阴极的共通电极、基板和盖板，有机发光二极管和共通电极固定于基板上，所述基板和盖板通过粘结材料粘结形成封装结构，其中，样条上位于共通电极上部的盖板被切除，共通电极暴露在外。

进一步地，OLED封装母板老化测试用样条的长度为待测OLED封装母板的长度，宽度为待测OLED封装母板内一个有机发光二极管未连接共通电极的一边到相邻的有机发光二极管未连接共通电极的一边的距离。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型所述OLED封装母板老化测试用样条，通过将待测OLED封装母板沿着有机发光二极管未连接共通电极一侧的边缘切割成若干列样条，并切除样条上共通电极上部的盖板以使共通电极暴露出来，便于与老化测试工装的探针接触，避免了制备预开孔的复杂工艺，提高检测效率。

本实用新型所述OLED封装母板老化测试用样条，结构简单，制作简易，便于在生产过程中的检测环节推广应用。

附图说明

图1为本实用新型实施例中的OLED封装母板老化测试用样条的俯视图；

图2为沿图1中A-A线的剖视图；

图3为沿图1中B-B线的剖视图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图1、2、3所述，本实施例中的OLED封装母板老化测试用样条，包括一组有机发光二极管1、一组连接有机发光二极管1阳极和阴极的共通电极2、基板3和盖板4，有机发光二极管1和共通电极2固定于基板3上，所述基板3和盖板4通过粘结材料粘结形成封装结构，其中，位于共通电极2上部的盖板被切除，共通电极2暴露在外。

该样条是通过将待测OLED封装母板沿着有机发光二极管1未连接共通电极2的一边切割而成，因此，样条的长度为待测OLED封装母板的长度，宽度为待测OLED封装母板内一个有机发光二极管1未连接共通电极2的一边到相邻的有机发光二极管未连接共通电极的一边的距离。

尽管这里参照本实用新型的最佳解释性实施例对本实用新型进行了描述，但是，应该理解，本领域技术人员可以设计出很多其他的修改和实施方式，这些修改和实施方式将落在本申请公开的原则范围和精神之内。更具体地说，在本申请公开、附图和权利要求的范围内，可以对主题组合布局的组成部件和/或布局进行多种变型和改进。除了对组成部件和/或布局进行的变型和改进外，对于本领域技术人员来说，其他的用途也将是明显的。