[实用新型]一种集束连接器测试用转接器

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试工装，特别是涉及一种用于测试四芯、五芯集束连接器公头组件的电性能及天线电性能的转接器。

背景技术

现有的用于测试四芯、五芯集束连接器公头组件的电性能及天线电性能的转接器，由四芯、五芯集束母头连接器、N型母头连接器和一段SM141组件构成，由于其相位误差大、驻波较大，从而导致四芯、五芯集束连接器公头组件的电性能测试及天线的电性能测试误差较大，且重量较重，体积较大，操作很不方便。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种不仅结构简单、加工简便、重量轻和体积小，而且测试精度高的集束连接器测试用转接器。

为解决上述技术问题，本实用新型采用这样一种集束连接器测试用转接器，包括SMA转接器，该测试用转接器还包括螺套、轴状基体和压板；所述基体安装在所述螺套的螺孔内，该基体沿轴向开设有若干个用于穿入所述SMA转接器的通孔，所述SMA转接器通过所述压板压紧在所述基体的通孔内。

在本实用新型中，所述基体的通孔优选有五个，在基体的轴端上还设有五条凹槽，SMA转接器轴身上的轴肩防转平面卡入所述基体的凹槽内。

所述SMA转接器为50Ω阻抗转接器。

采用上述结构后，本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型的SMA转接器便于装卸，在发现某个通道SMA转接器与校准通道的专用SMA转接器相位差较大时，只需松开压板就可方便地进行替换，因此测试精度高，并且可方便地配出九个一组的专用SMA转接器相位差异非常小的集束连接器测试用转接器。而且，本实用新型的转接器采用的零部件较少，且结构简单，加工简便，重量轻和体积小。另外，本实用新型的SMA转接器采用50Ω阻抗转接器，非线缆组件结构，因此电压驻波比和差损都较小，从而使该转接器测试被测件的测试精度更高。

附图说明

以下结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步的详细说明。

图1为本实用新型集束连接器测试用转接器的一种结构示意图。

图2为图1中所示基体的结构示意图。

图3为图2的右视示意图。

图4为图2的左视示意图。

图5为本实用新型集束连接器测试用转接器的另一种结构示意图。

图6为图5中所示基体的结构示意图。

图7为图6的右视示意图。

图8为图6的左视示意图。

图9为本实用新型中螺套的一种结构示意图。

图10为图9的侧视示意图。

图11为本实用新型中压板的一种结构示意图。

图12为图11的侧视示意图。

图13为本实用新型中SMA转接器的一种结构示意图。

具体实施方式

参见图1至图13所示的一种集束连接器测试用转接器，包括SMA转接器1，该测试用转接器还包括螺套2、轴状基体3和压板4；所述基体3通过螺纹连接或通过其轴肩3－3与螺套2的端部2－1相抵以及弹性圆销8安装在所述螺套2的螺孔内，该基体3沿轴向开设有若干个用于穿入所述SMA转接器1的通孔3－1，所述SMA转接器1通过所述压板4及螺钉5压紧在所述基体3的通孔3－1内。

如图3、4和图7、8所示，所述基体3的通孔3－1有五个，在基体3的轴端上还设有五条凹槽3－2。如图1、5所示，SMA转接器1中间轴身上的轴肩防转平面1－1卡入所述基体3的凹槽3－2内。

在本实用新型中，如图9、10所示，所述螺套2为M32×1.5的内螺纹六角螺套。所述基体3有图1～4所示的五芯和图5～8所示的四芯两种结构。如图11、12所示，所述压板4呈圆盘形，其上设有五个安装转接器孔6和六个螺纹过孔7。如图13所示，所述SMA转接器1优选为一端SMA标准母头，另一端为非标母头，中间轴肩有防转平面1－1，阻抗为50Ω的转接器。

参见图1～4所示的五芯集束连接器测试用转接器和图5～8所示的四芯集束连接器测试用转接器，SMA转接器1从基体3左端装入，SMA转接器1中间轴身上的轴肩防转平面1－1卡入基体3右端的凹槽3－2内，压板4采用螺钉5锁死后压紧SMA转接器1，通过该结构将SMA转接器1固定在基体3上，方便装卸以便相位配组。

经过试用，本实用新型集束连接器测试用转接器的测试精度高，体积小，重量轻，加工方便，相位一致性好，电性能优良，测试拆卸方便，取得了良好的实用效果。