[实用新型]一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器

权利要求书

1.一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器，其特征在于，包括石英透镜、变频反射镜、可见光增透透镜和硅基探测器，四个部件都安装在内部涂黑的密封装置中，石英透镜安装至密封装置的入射窗口处，外部光源入射通过石英透镜后，入射到镀有荧光薄膜的变频反射镜上，光经变频反射镜反射到反射镜的下方的可见光增透透镜，经可见光增透透镜聚焦到水平安装在密封装置底部的硅基探测器上。

2.根据权利要求1所述基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器，其特征在于，所述石英透镜表面镀有一层紫外增透薄膜。

3.根据权利要求1所述基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器，其特征在于，所述变频反射镜为平面或凹面，反射面镀有一层用于紫外发光的变频膜，反射镜平面与石英透镜射出的入射光线成倾斜角，倾斜角可调。