[实用新型]可调衰减器有效

专利信息
申请号: 201320344791.0 申请日: 2013-06-17
公开(公告)号: CN203465445U 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 曹迎春;黄春辉;王辉 申请(专利权)人: 上海中科股份有限公司;上海中科光纤通讯器件有限公司;上海中科创欣通讯设备有限公司
主分类号: G02B6/26 分类号: G02B6/26;G02B6/34
代理公司: 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 代理人: 张恒康
地址: 200233 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 可调 衰减器
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种可调衰减器,尤其是一种光通讯领域中使用的集成监控信号于一体的MEMS可调衰减器。

背景技术

在光通信网络中,经常会使用到可调式衰减器对信号进行调节,同时为了确认调节量还需要在衰减器前段加入测量装置来监控输入信号的功率。目前使用的方案是利用MEMS(微机电系统,Micro-Electro-Mechanical Systems)可调衰减器和TAP-PD(分光探测器)组合在一起使用实现信号的监控和调节,该方案现在一般有两种实现方案:

1. 如图1所示,该方案在前端使用小分光比分路器(1%~5%)1和单光纤准直器2以及光功率探测器PD 3监测输入信号,微机电系统芯片5根据光功率探测器3测量的结果来调节进入双光纤准直器4的反射光达到衰减信号的目的。现有使用情况分路器1,光功率探测器系统3和微机电系统芯片5三者分离,体积较大,不利于集成化,且使用时须手动相接,操作不方便。

2. 如图2所示,该方案由光功率监测计TAP-PD和MEMS VOA(微机电系统可调式光衰减器)两部分组成。光功率监测计由双光纤准直器6,TAP分光片7和光功率探测器PD8组成。其中TAP分光片透射小百分比功率。MEMS VOA由双光纤准直器9和微电机系统芯片10组成。方案将方案1中的光功率检测系统1,2,3三部分组合在一起,提高了集成化程度。但检测系统TAP-PD 和MEMS VOA(微机电系统可调式光衰减器)二者仍然分离使得整个模块的体积增大,不利于系统的集成,增加系统的不稳定性。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种可调衰减器,能够有效地将MEMS VOA和TAP-PD的功能结合在一起,制作成一体化的模块组件,体积小,使用方便。

为解决上述技术问题,本实用新型可调衰减器的技术方案是,在一条中轴线上依次设置双光纤准直器、屋脊棱镜和微电机系统芯片,入射光由所述双光纤准直器的一条光路呈一个角度射入所述屋脊棱镜,经所述屋脊棱镜的第一部分折射后,由一个分光片将光路分为两路,一路透过所述分光片在所述微电机系统芯片表面被反射,另一路被分光片反射至一个光功率探测器,所述经微电机系统芯片表面的反射光由所述屋脊棱镜的第二部分折射后射入所述双光纤准直器,由所述双光纤准直器将反射光输出,所述双光纤准直器、屋脊棱镜、微电机系统芯片、分光片和光功率探测器被设置在同一个封装体内。

本实用新型通过采用上述技术方案,与现有技术相比,使用元件减少,体积减小,集成化高,接口只有两根光纤和五根电引脚,便于操作。    

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步详细的说明:

图1和图2为现有的可调衰减器的结构示意图;

图3为本实用新型可调衰减器的结构示意图。

图中附图标记为,1.小分光比分路器;2.单光纤准直器;3.光功率探测器;4.双光纤准直器;5.微机电系统芯片;6.双光纤准直器;7.TAP分光片;8.光功率探测器;9.双光纤准直器;10.微电机系统芯片;11.双光纤准直器;12.屋脊棱镜;13.TAP分光片;14.微电机系统芯片;15.光功率探测器。

具体实施方式

本发明公开了一种可调衰减器,如图3所示,在一条中轴线上依次设置双光纤准直器11、屋脊棱镜12和微电机系统芯片14,入射光由所述双光纤准直器的一条光路呈一个角度射入所述屋脊棱镜12,经所述屋脊棱镜的第一部分折射后,由一个分光片13将光路分为两路,一路透过所述分光片13在所述微电机系统芯片14表面被反射,另一路被分光片反射至一个光功率探测器15,所述经微电机系统芯片14表面的反射光由所述屋脊棱镜12的第二部分折射后射入所述双光纤准直器11,由所述双光纤准直器11将反射光输出,所述双光纤准直器、屋脊棱镜、微电机系统芯片、分光片和光功率探测器被设置在同一个封装体内。

经所述分光片反射的光线与所述中轴线垂直。

所述屋脊棱镜的楔形角θ约为6°~8°之间。

所述屋脊棱镜是玻璃材质。

所述屋脊棱镜表面镀有增透膜。

所述分光片13的分光比为1%~5%。

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