[实用新型]一种用于测量IGBT模块基板拱度的结构有效
申请号: | 201320347944.7 | 申请日: | 2013-06-18 |
公开(公告)号: | CN203298741U | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 方杰;万超群;贺新强;曾雄;李继鲁;彭勇殿;吴煜东 | 申请(专利权)人: | 株洲南车时代电气股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16;G01B21/32 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人: | 卢宏 |
地址: | 412001*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 测量 igbt 模块 基板拱度 结构 | ||
1.一种用于测量IGBT模块基板拱度的结构,包括IGBT模块,所述IGBT模块基板正面朝下固定在固定支座上,其特征在于,所述IGBT模块基板背面压装在一块带有若干个通孔的金属板上。
2.根据权利要求1所述的用于测量IGBT模块基板拱度的结构,其特征在于,所述金属板为铝板或铜板。
3.根据权利要求1所述的用于测量IGBT模块基板拱度的结构,其特征在于,所述通孔为圆形或梳条状。
4.根据权利要求1所述的用于测量IGBT模块基板拱度的结构,其特征在于,所述固定支座包括固定板和支撑杆,所述支撑杆一端固定在所述固定板上,所述支撑杆另一端与所述基板正面固定连接。
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